Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Повнотекстовий пошук
Пошуковий запит: (<.>A=Ильинский А$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 6
Представлено документи з 1 до 6
|
1. |
Ильинский А. И. О безграничной делимости смеси по параметру рассеяния гауссовского распределения [Електронний ресурс] / А. И. Ильинский // Доповiдi Національної академії наук України. - 2011. - № 1. - С. 13-16. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/dnanu_2011_1_4 Доведено, що якщо безмежно подільна характеристична функція виду <$E int from 0 to inf~e sup {- sigma t sup 2}~dS( sigma )>, де <$E S( sigma )> - функція розподілу, має обмежений пуассонівський спектр, то вона дорівнює <$E exp (- sigma sub 0 t sup 2 )> за деякого <$E sigma sub 0~symbol У~0>.
| 2. |
Лябук С. И. О влиянии содержания упрочняющей фазы на релаксационную стойкость вакуумных композитов на основе Ni [Електронний ресурс] / С. И. Лябук, А. И. Ильинский, А. Н. Сте // Восточно-Европейский журнал передовых технологий. - 2003. - № 4. - С. 31-33. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Vejpte_2003_4_10
| 3. |
Карбовский В. Л. Исследование процессов структурной релаксации поверхности аморфного сплава Fe77Si8B15 методом сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии [Електронний ресурс] / В. Л. Карбовский, А. Г. Ильинский, Ю. В. Лепеева, Ю. А. Загородний // Металлофизика и новейшие технологии. - 2012. - Т. 34, № 1. - С. 99-110. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2012_34_1_11 Методами сканирующей туннельной микроскопии и спектроскопии изучены процессы релаксации, происходящие на поверхности аморфной ленты состава Fe77Si8B15 в зависимости от температуры отжига и охлаждения. Показано влияние температуры и скорости прогрева на морфологию поверхности и размер нанокристаллов. Описаны процессы структурной релаксации, наблюдаемые методом туннельной микроскопии на поверхности исследуемого сплава. Установлено, что при умеренных температурах отжига наблюдаются нанокристаллы с характерным размером ~ 15 нм, что сопоставимо с длиной магнитной обменной корреляции.
| 4. |
Бармин А. Е. Сегрегационные явления в вакуумно-осаждённых нанокомпозитах Fe–W [Електронний ресурс] / А. Е. Бармин, А. И. Ильинский, А. И. Зубков // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2012. - Т. 10, Вип. 2. - С. 379-383. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/Nano_2012_10_2_15
| 5. |
Ильинский А. Г. Особенности атомного строения металлических аморфных материалов в температурном интервале от −193 до +598°С [Електронний ресурс] / А. Г. Ильинский, Ю. В. Лепеева, В. Л. Карбовский, Г. М. Зелинская, Т. М. Христенко, С. С. Луговский, А. Н. Бабенко // Металлофизика и новейшие технологии. - 2013. - Т. 35, № 2. - С. 145-161. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2013_35_2_3 Методами рентгеноструктурного анализа и высокоразрешающей сканирующей туннельной микроскопии однозначно установлено, что в жидких и аморфных материалах основной структурной составляющей являются кристаллики (кристаллические кластеры) малого размера. В жидкостях в объемах между кластерами содержатся атомные скопления, которые не влияют на формирование дифракционной картины, а влияют только на уровень интенсивности рассеяния. Это возможно только в том случае, когда все расстояния между атомами равновероятны, что характерно только для газа. В аморфных лентах, сразу после их получения спиннингованием расплавов вторая структурная составляющая отсутствует. В результате этого между кластерами образуются пустоты достаточно большого объема, в которые впоследствии попадают атомы окружающей среды. Если этот процесс сделать управляемым, получим еще один способ влияния на структуру, а, следовательно, и на физико-механические свойства материалов в аморфном и нанокристаллическом состояниях.С применением методов рентгеновской дифракции изучена структура аморфных лент сплава Fe80Si6B14 и закономерности структурных изменений в широком температурном интервале: от -190 до <$E+598~symbol Р roman С>. Исследования проведены на дифрактометре XRD; для регистрации рассеянного рентгеновского излучения использован двухкоординатный рентгеновский детектор, источник рентгеновского излучения - синхротрон. Съемка рентгенограмм проведена с шагом по температуре 4 К. Это, а также используемая геометрия рентгеновской съемки (на просвет) и очень малая длина волны используемого излучения (0,1239 Ангстрем), обеспечивали очень высокую интенсивность (статистическая ошибка счета на "хвосте" дифрактограммы - не больше 1 %). Полученные данные позволяют считать, что кристаллические кластеры даже в аморфных лентах вращаются с большими скоростями, хотя эти данные и следует рассматривать лишь как необходимые, но недосточные для однозначного утверждения.
| 6. |
Карбовский В. Л. Электронное строение аморфного металлического сплава Fe77Si8B15 [Електронний ресурс] / В. Л. Карбовский, А. Г. Ильинский, В. Х. Касияненко, О. И. Слуховский, Ю. В. Лепеева, Л. И. Карбовская, А. И. Соболев // Металлофизика и новейшие технологии. - 2014. - Т. 36, № 7. - С. 977-986. - Режим доступу: http://nbuv.gov.ua/UJRN/MPhNT_2014_36_7_11 С помощью методов рентгеновской фотоэлектронной и туннельной спектроскопий исследовано электронное строение аморфного металлического сплава Fe77Si8B15. В окисленном поверхностном слое исследуемого соединения, помимо связей С - С, наблюдаются связи С = O, характерные для сложных углеродных соединений. В окисленном слое не зафиксированы бор и его соединения. Наблюдается значительная поверхностная сегрегация кремния, концентрация которого сохраняется постоянной как в окисленном слое, так и по исследуемой глубине ленты. В объеме ленты обнаруживается присутствие карбида кремния Si - C, а также незначительные количества кислорода и азота. С помощью метода туннельной спектроскопии обнаружены области с пониженной проводимостью, что характерно для образования нанофаз железа и кремния. Наблюдаются существенные неоднородности плотности электронных состояний на межкластерных границах, что свидетельствует об их сложной организации. Уровень Ферми исследуемого сплава находится в локальном минимуме плотности электронных состояний, что соответствует критерию Нагеля - Таука образования аморфного состояния.
|
|
|