РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнявидом документа
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (8)Журнали та продовжувані видання (3)Автореферати дисертацій (1)
Пошуковий запит: (<.>U=В372.144$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 15
Представлено документи з 1 до 15
1.

Панин С. Б. Дифракция плоской электромагнитной волны на решетке с киральной средой. — 1999 // Радиофизика и электроника.
2.

Фреїк Д. М. Закони дисперсії та механізми розсіювання носіїв заряду у кристалах n-PbSe. — 2001 // Укр. фіз. журн.
3.

Стеценко Ю. Е. Интеркалирование фуллерита С60 гелием и аргоном при нормальных температуре и давлении. — 2003 // Физика низ. температур.
4.

Блащук А. Г. Применение метода дифракции медленных электронов для исследования статических дефектов в поверхностных слоях. — 2005 // Металлофизика и новейшие технологии.
5.

Хорошун В. В. Математическое моделирование дифракции плоских электромагнитных волн на ленточных решетках. — 2005 // Вестн. Херсон. нац. техн. ун-та.
6.

Гарабажів Я. Д. Формування картин Кікучі дифракції в синтезованих кристалах алмазу : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07. — Чернівці, 2010
7.

Данчук В. В. Теория дифракции в неупорядоченных кристаллах, образованных линейными асимметричными молекулами. — 2012 // Физика низ. температур.
8.

Vasyliev I.  Diffraction of light by acoustic waves in periodic layered. — 2012 // Вісн. Київ. нац. ун-ту. Сер. Радіофізика та електроніка.
9.

Chukhovskii F. N. Domino phase retrieval algorithm for structure determination using electron diffraction and high resolution transmission electron microscopy patterns // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2003. - 6, № 3.
10.

Борча М. Д. Определение структурной неоднородности кристаллов по данным анализа картин Кикучи // Металлофизика и новейшие технологии. - 2013. - 35, № 8.
11.

Лизунов В. В. Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. I. Теоретическая модель // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології : зб. наук. пр. - 2015. - 13, вип. 1.
12.

Молодкин В. Б. Аномальная чувствительность к микродефектам деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции в монокристаллах // Metallophysics and Advanced Technologies. - 2018. - 40, № 8.
13.

Фодчук И. М. Определение величины локальных деформаций и их анизотропии в поликристаллическом Ge по данным дифракции обратно рассеянных электронов // Metallophysics and Advanced Technologies. - 2019. - 41, № 3.
14.

Бондарчук О. Б. Тонка структура спектрів пружно відбитих електронів та визначення параметрів ближнього порядку неупорядкованих поверхонь твердих тіл : Дис...канд. фіз.-мат. наук: 01.04.04. — К., 1995
15.

Бондарчук О. Б. Тонка структура спектрів пружно відбитих електронів та визначення параметрів ближнього порядку неупорядкованих поверхонь твердих тіл : Дис...канд. фіз.-мат. наук: 01.04.04. — К., 1995
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського