Пошуковий запит: (<.>U=В372.144$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 15
Представлено документи з 1 до 15
|
1. |
Бондарчук О. Б. Тонка структура спектрів пружно відбитих електронів та визначення параметрів ближнього порядку неупорядкованих поверхонь твердих тіл : Дис...канд. фіз.-мат. наук: 01.04.04. — К., 1995
|
2. |
Бондарчук О. Б. Тонка структура спектрів пружно відбитих електронів та визначення параметрів ближнього порядку неупорядкованих поверхонь твердих тіл : Дис...канд. фіз.-мат. наук: 01.04.04. — К., 1995
|
3. |
Панин С. Б. Дифракция плоской электромагнитной волны на решетке с киральной средой. — 1999 // Радиофизика и электроника.
|
4. |
Фреїк Д. М. Закони дисперсії та механізми розсіювання носіїв заряду у кристалах n-PbSe. — 2001 // Укр. фіз. журн.
|
5. |
Стеценко Ю. Е. Интеркалирование фуллерита С60 гелием и аргоном при нормальных температуре и давлении. — 2003 // Физика низ. температур.
|
6. |
Chukhovskii F. N. Domino phase retrieval algorithm for structure determination using electron diffraction and high resolution transmission electron microscopy patterns // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2003. - 6, № 3.
|
7. |
Блащук А. Г. Применение метода дифракции медленных электронов для исследования статических дефектов в поверхностных слоях. — 2005 // Металлофизика и новейшие технологии.
|
8. |
Хорошун В. В. Математическое моделирование дифракции плоских электромагнитных волн на ленточных решетках. — 2005 // Вестн. Херсон. нац. техн. ун-та.
|
9. |
Гарабажів Я. Д. Формування картин Кікучі дифракції в синтезованих кристалах алмазу : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.07. — Чернівці, 2010
|
10. |
Данчук В. В. Теория дифракции в неупорядоченных кристаллах, образованных линейными асимметричными молекулами. — 2012 // Физика низ. температур.
|
11. |
Vasyliev I. Diffraction of light by acoustic waves in periodic layered. — 2012 // Вісн. Київ. нац. ун-ту. Сер. Радіофізика та електроніка.
|
12. |
Борча М. Д. Определение структурной неоднородности кристаллов по данным анализа картин Кикучи // Металлофизика и новейшие технологии. - 2013. - 35, № 8.
|
13. |
Лизунов В. В. Дисперсионная чувствительность картины рассеяния к дефектам в зависимости от толщины кристаллических изделий нанотехнологий. I. Теоретическая модель // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології : зб. наук. пр. - 2015. - 13, вип. 1.
|
14. |
Молодкин В. Б. Аномальная чувствительность к микродефектам деформационной зависимости полной интегральной интенсивности динамической дифракции в монокристаллах // Metallophysics and Advanced Technologies. - 2018. - 40, № 8.
|
15. |
Фодчук И. М. Определение величины локальных деформаций и их анизотропии в поликристаллическом Ge по данным дифракции обратно рассеянных электронов // Metallophysics and Advanced Technologies. - 2019. - 41, № 3.
|