Пошуковий запит: (<.>U=В372.1<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 57
Представлено документи з 1 до 20
|
| |
1. |
Лысенко О. Г. Исследование фазовых переходов в кремнии методами сканирующей туннельной спектроскопии и наноиндентирования // Сверхтвердые материалы. - 2013. - № 6.
|
2. |
Хацько Е. Высокочастотные спектры ЭПР синтетического алмаза и наноалмаза типа Ib при низких температурах // Физика низ. температур. - 2013. - 39, № 12.
|
3. |
Онопрієнко Є. В. Сучасні растрові електронні мікроскопи у матеріалознавстві // Інструмент. світ. - 2012. - № 1.
|
4. |
Ivkova T. I. Express determination of iron microimpurities in technological solutions for growing KH2PO4 single crystals by visual test method // Functional Materials. - 2004. - 11, № 2.
|
5. |
Слободенюк А. О. Розв'язки рівняння Дірака у неоднорідному магнітному полі // Доп. НАН України. - 2011. - № 5.
|
6. |
Просвирнин С. Л. Собственные поляризационные состояния бесконечно тонких идеально проводящих периодических структур // Доп. НАН України. - 2005. - № 6.
|
7. |
Klad'ko V. P. Recrystallization processes in screen-printed CdS films // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2002. - 5, № 2.
|
8. |
Куліков Л. М. Графеноподібні наноструктури автоінтеркальованого диселеніду ніобію. — 2011 // Металлофизика и новейшие технологии.
|
9. |
Литовченко В. Г. Модифіковані графеноподібні плівки як новий клас напівпровідників зі змінною шириною забороненої зони. — 2011 // Укр. фіз. журн.
|
10. |
Макаренко Л. И. Диффузно-динамическая комбинированная толщинно-деформационная интегральная лауэ-дифрактометрия в области K-края поглощения кристаллов с дефектами. — 2010 // Металлофизика и новейшие технологии.
|
11. |
Melnik V. AES and XPS characterization of TiN layers formed and modified by ion implantation // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 1999. - 2, № 3.
|
12. |
Мицек А. И. Квантово-статистическая модель Fe1-xNix. 3. Магноны, сверхрешетки графен/пермаллой. — 2012 // Металлофизика и новейшие технологии.
|
13. |
Репецький С. П. Електронна структура та спін-залежний транспорт у вуглецевих нанотрубках з домішкою хрому. — 2012 // Металлофизика и новейшие технологии.
|
14. |
Чекурін В. Обернена задача ідентифікації приповерхневих порожнин у твердих тілах із використанням ІЧ-термографії // Вісн. Нац. ун-ту "Львів. політехніка". - 2015. - № 826.
|
15. |
Nakhodkin N. Special joints of grain boundaries in nanosilicon films with equiaxed and fibrous structures // Вісн. Київ. нац. ун-ту. Сер. Радіофізика та електроніка. - 2014. - Вип. 1/2.
|
16. |
Kuzmenko A. Kinetic characteristics, phase and structural changes in electrical materials and devices // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2013. - 5, 4 (ч. 1).
|
17. |
Lizunov V. V. Integrated diffractometry: achieved progress and new performance capabilities // Progress in Physics of Metals. - 2019. - 20, № 1.
|
18. |
Jeroh D. M. Growth of Europium-doped magnesium selenide films by electric field-assisted spray pyrolysis: optical and structural analysis // East Europ. J. of Physics. - 2018. - № 4.
|
19. |
Гнатовський В. О. Застосування кореляційної методики при дифракції на періодичних структурах // Наук. пр. Нац. ун-ту харч. технологій. - 2016. - 22, № 6.
|
20. |
Репецький С. П. Електронна структура та електропровідність графену з домішкою азоту // Укр. фіз. журн.. - 2015. - 60, № 2.
|
| |