Обговорено динамічну інтегральну дифрактометрію та її функціональні можливості. Показано, що комбіноване використання вимірювань інтегральних дифракційних параметрів за різних умов дифракції уможливлює визначення параметрів мікродефектів декількох типів, одночасно присутніх у монокристалі. Обговорено приклади використання вимірювання повної інтегральної інтенсивності динамічної дифракції, внеску її дифузійної складової та їх залежностей від різних умов динамічної дифракції для нелінійної експресної діагностики характеристик дефектної структури монокристалічних систем.

• Ушаков Михайло Віталійович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"