РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІ
НАДХОДЖЕННЯ
ПОШУК
РУБРИКАТОР

Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Вид пошуку
у знайденому
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнявидом документа
 Знайдено в інших БД:Книжкові видання та компакт-диски (16)Наукова періодика України (6)
Пошуковий запит: (<.>A=Богданов Е$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 28
Представлено документи з 1 до 20
...
1.

Молодкин В. Б. Диагностика дефектной структуры сильно поглощающих монокристаллов методом полной интегральной отражательной способности. — 2002 // Металлофизика и новейшие технологии.
2.

Молодкин В. Б. Комбинированное влияние нарушенного поверхностного слоя и микродефектов в объеме кристалла на динамические дифракционные эффекты. — 2002 // Металлофизика и новейшие технологии.
3.

Молодкин В. Б. Определение параметров нарушенного поверхностного слоя и характеристик микродефектов в кристаллах методом интегральной дифрактометрии. — 2002 // Металлофизика и новейшие технологии.
4.

Молодкин В. Б. Определение толщины нарушенного слоя на поверхности монокристаллов методом интегральных отражательных способностей при брэгг-дифракции рентгеновского излучения. — 2002 // Металлофизика и новейшие технологии.
5.

Богданов Е. И. Формирование силицидных фаз на монокристаллическом кремнии при термоионном осаждении титана. — 2004 // Металлофизика и новейшие технологии.
6.

Рябошапка К. П. Упрощенная модель оценки плотности хаотически распределенных дислокаций по уширению рентгеновских дифракционных линий. — 2005 // Металлофизика и новейшие технологии.
7.

Рябошапка К. П. Рентгенодифракционный анализ кристаллов с сильно искаженными поверхностными слоями, содержащими неоднородно распределенные дислокации. — 2005 // Металлофизика и новейшие технологии.
8.

Мазанко В. Ф. Взаимодействие плазмы тлеющего разряда аргона с поликристаллическим порошковым вольфрамом. — 2007 // Металлофизика и новейшие технологии.
9.

Михаленков В. С. Влияние параметров импульсного ударного сжатия на миграцию атомов <$E bold {~sup 63 roman Ni}> в поликристаллической меди. — 2007 // Металлофизика и новейшие технологии.
10.

Молодкин В. Б. Возможность установления неоднородности распределения дефектов с глубиной в монокристаллах. — 2006 // Металлофизика и новейшие технологии.
11.

Молодкин В. Б. Диагностика неоднородного распределения микродефектов методом полной интегральной отражательной способности монокристаллов. — 2006 // Металлофизика и новейшие технологии.
12.

Мазанко В. Ф. Особенности структурных изменений и диффузионного перераспределения атомов в Ст.20 при ультразвуковой обработке. — 2007 // Металлофизика и новейшие технологии.
13.

Мазанко В. Ф. Структурные изменения приповерхностных слоев поликристаллического порошкового вольфрама в плазме тлеющего разряда аргона. — 2007 // Металлофизика и новейшие технологии.
14.

Богданов Е. И. Особенности имплантации ионов аргона в поликристаллический порошковый вольфрам из плазмы тлеющего разряда. — 2007 // Металлофизика и новейшие технологии.
15.

Богданов С. Е. Фазообразование TiSi2(C54) при низкоэнергетическом термоионном осаждении Ti на подложку монокристаллического кремния. — 2008 // Металлофизика и новейшие технологии.
16.

Молодкин В. Б. Диагностика кристаллов с неоднородным распределением дислокаций методом вариации длин волн рентгеновского излучения. — 2010 // Металлофизика и новейшие технологии.
17.

Молодкин В. Б. Дифрактометрия кристаллов с неоднородным распределением дислокаций методом дискретного сканирования рентгеновского микропучка. — 2010 // Металлофизика и новейшие технологии.
18.

Шпак А. П. Полная интегральная интенсивность (ПИИ) рассеяния рентгеновских лучей монокристаллами с механически нарушенным поверхностным слоем толщиной порядка длины экстинкции. — 2010 // Металлофизика и новейшие технологии.
19.

Молодкин В. Б. Рентгенодифракционный метод определения неоднородного диффузионного распределения внедренных атомов в монокристаллах. — 2010 // Металлофизика и новейшие технологии.
20.

Молодкин В. Б. Основы рентгеновской дифрактометрии неравномерно распределённых сравнимых с длиной экстинкции микродефектов монокристаллов. — 2012 // Металлофизика и новейшие технологии.
...
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського