РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІНАДХОДЖЕННЯ |
ПОШУК
|
РУБРИКАТОР
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб|
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000132347<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
Молодкин В. Б. Определение параметров нарушенного поверхностного слоя и характеристик микродефектов в кристаллах методом интегральной дифрактометрии / В. Б. Молодкин, А. И. Низкова, С. И. Олиховский, В. Ф. Мазанко, Е. И. Богданов, С. Е. Богданов, А. И. Гранкина, С. В. Дмитриев, Т. Е. Корочкова, М. Т. Когут, Ю. Н. Прасолов // Металлофизика и новейшие технологии. - 2002. - 24, № 7. - С. 969-976. - Библиогр.: 13 назв. - рус. Запропоновано комбінований метод повної інтегральної відбивної здатності (ПІВЗ) для діагностики: декількох типів мікродефектів, одночасно присутніх в об'ємі монокристала, порушеного шару на поверхні ідеального монокристала (ППШ), а також ППШ і мікродефектів одного визначального типу, одночасно присутніх в монокристалі. Проведено узагальнення вказаних результатів на випадок, коли в зразку присутні як ППШ, так і одночасно декілька визначальних типів мікродефектів. Ключ. слова: дифрактометрия нарушенного поверхностного слоя, интегральная отражательная способность монокристаллов, динамическое рассеяние, рентгеновские лучи Індекс рубрикатора НБУВ: В372.31в734.4 Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
 Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" | |||
| Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
 |
| Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів |
 |
| Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського