 Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>U=В372.15$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 28
Представлено документи з 1 до 20
|
| | |
1.  |
ДС59015
Прядкин, Сергей Леонидович.
Применение сканирующей туннельной микроскопии для изучения структуры поверхности проводящих твердых тел [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Прядкин Сергей Леонидович ; НАН Украины, Ин-т металлофизики им. Г. В. Курдюмова. - К., 1998. - 91 л. - Библиогр.: л. 88-91.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Национальная академия наук Украины; Институт металлофизики имени Г. В. Курдюмова (Киев)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 2. |
ДС62397
Боркач, Євген Ілліч.
Електронно- мікроскопічні дослідження впливу умов отримання на будову складних халькогенідних стекол [Текст] : дис... канд. техн. наук: 01.04.10 / Боркач Євген Ілліч ; Ужгородський держ. ун-т. - Ужгород, 1999. - 148 л. - л. 130-148Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Ужгородський державний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 3. |
ДС53469
Марченко, Александр Анатольевич.
Сканирующая туннельная микроскопия тонких пленок длинноцепочечных алифатических соединений [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Марченко Александр Анатольевич ; НАН Украины, Ин-т физики. - К., 1997. - 144 л.: рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Национальная академия наук Украины (Киев); Институт физики (Киев)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 4. |
ДС100329
Марченко, Александр Анатольевич.
Сканирующая туннельная микроскопия органических молекул на интерфейсе жидкость-твердое тело [Текст] : дис... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.18 / Марченко Александр Анатольевич ; Ин-т физики НАН Украины. - К., 2007. - 368 л. - Библиогр.: л. 342-368Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Национальная академия наук Украины; Институт физики (Киев)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 5. |
РА351267
 Марченко, Олександр Анатолійович.
Сканувальна тунельна мікроскопія органічних молекул на інтерфейсі рідина-тверде тіло [Текст] : автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук: 01.04.18 / Марченко Олександр Анатолійович ; Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова НАН України. - К., 2007. - 33 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Національна академія наук України; Інститут фізики напівпровідників імені В. Є. Лашкарьова (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 6. |
РА362037
Сліпченко, Микола Іванович.
Фізичні основи ближньопольової НВЧ діагностики матеріалів і середовищ [Текст] : автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук: 01.04.01 / Сліпченко Микола Іванович ; Сумський держ. ун-т. - Суми, 2008. - 36 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Сумський державний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 7. |
РА302214
Прядкін, Сергій Леонідович.
Використання скануючої тунельної мікроскопії для вивчення структури поверхні твердих тіл- провідників [Текст] : автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.18 / Прядкін Сергій Леонідович ; НАН України, Ін-т металофізики ім. Г. В. Курдюмова. - К., 1998. - 18 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Національна академія наук України; Інститут металофізики імені Г. В. Курдюмова (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 8. |
РА305401
Боркач, Євген Ілліч.
Електронно- мікроскопічні дослідження впливу умов отримання на будову складних халькогенідних стекол [Текст] : автореф. дис... канд. техн. наук: 01.04.10 / Боркач Євген Ілліч ; Ужгородський держ. ун-т. - Ужгород, 1999. - 16 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Ужгородський державний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 9. |
РА331442
Щеглов, Дмитрий Владимирович.
Наноразмерная модификация поверхности полупроводников и металлов зондом атомно-силового микроскопа [Текст] : автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Щеглов Дмитрий Владимирович ; Ин-т физики полупроводников СО РАН. - Новосибирск, 2004. - 23 с.: рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Российская академия наук. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников (Новосибирск)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 10. |
ДС109378
Слипченко, Николай Иванович.
Физические основы ближнеполевой СВЧ диагностики материалов и сред [Текст] : дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.01 / Слипченко Николай Иванович ; Харьк. нац. ун-т радиоэлектроники. - Х., 2008. - 351 л. : рис. - Библиогр.: л. 323-351Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Харьковский национальный университет радиоэлектроники
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 11. |
СО25838
Автоионная и автоэлектронная микроскопия и спектроскопия: история, достижения, современное состояние, перспективы [Текст] : труды Российского семинара, г.Москва, 21-23 мая 2002г. / ред. А. В. Суворов ; Институт теоретической и экспериментальной физики. - М. : Академпринт, 2003. - 400 с.: ил. - Библиогр.: в конце трудов. - ISBN 5-87911-103-2Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Географічні рубрики:
Дод. точки доступу:
Суворов, А. В. (ред.); Институт теоретической и экспериментальной физики
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 12. |
ВА689002
Синдо, Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия [Текст] / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванов. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. - (Мир материалов и технологий ; 6-08). - Библиогр.: в конце глав. - ISBN 5-94836-064-4. - ISBN 4-431-70336-5 (англ.)Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Оикава, Тецуо; Иванов, С. А. (пер. с англ.)
Видання зберігається у :
Універсальний підсобний фонд
| | 13. |
В277162/1
Scanning tunneling microscopy [Text] / ed. R. Wiesendanger, H.-J. Güntherodt. - Berlin [etc.] : Springer, 1994 .
Vol. 1 : General principles and applications to clean and absorbate-covered surfaces / with contrib. by D. Anselmetti [et al.]. - 2nd ed. - 1994. - XII. 280 p. : fig. - (Springer series in surface sciences ; 20). - Бібліогр. в кінці розд. - ISBN 3-540-58415-3. - ISBN 0-387-58415-3Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Wiesendanger, R. \ed.\; Güntherodt, H. -J. \ed.\; Anselmetti, D. (with contrib. by.); Behm, R. J. (with contrib. by.); van Bentum , P. J. M. (with contrib. by.)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 14. |
РА377684
Черепанов, Всеволод Володимирович.
Дослідження надтонких органічних плівок методами зондової мікроскопії [Текст] : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.04 / Черепанов Всеволод Володимирович ; Ін-т фізики НАН України. - К., 2010. - 24 с. : рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Національна академія наук України; Інститут фізики (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 15. |
ІС12501
Vichniac, Gérard.
Description microscopique des reactions quasi-elastiques et tres inelastiques entre ions lourds [Text] : these / G. Vichniac ; Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
L'Universite de Paris-Sud. Centre d'Orsay
Видання зберігається у :
| | 16. |
ІВ206003
Gotszalk, Teodor Paweł.
Systemy mikroskopii bliskich oddziaływań w badaniach mikro-i nanostruktur [Text] / T. P. Gotszalk. - Wrocław : Oficyna wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2004. - 240 s.: rys. - Бібліогр.: s. 218-240. - ISBN 83-7085-844-9Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Видання зберігається у :
| | 17. |
ДС122867
Черепанов, Всеволод Владимирович.
Исследования сверхтонких органических плёнок методами зондовой микроскопии [Текст] : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / Черепанов Всеволод Владимирович ; Ин-т физики НАН Украины. - К., 2010. - 167 л. : рис. - Бібліогр.: арк. 144-167.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Національна академія наук України; Інститут фізики (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 18. |
РА384787
Матієшин, Юрій Миколайович.
Вдосконалення методів та засобів телевізійної сканувальної оптичної мікроскопії динамічних мікрооб'єктів [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.12.17 / Матієшин Юрій Миколайович ; Нац. ун-т "Львів. політехніка". - Л., 2011. - 22 с. : рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
"Львівська політехніка", національний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 19. |
ДС128299
Матієшин, Юрій Миколайович.
Вдосконалення методів та засобів телевізійної сканувальної оптичної мікроскопії динамічних мікрооб'єктів [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 05.12.17 / Матієшин Юрій Миколайович ; Нац. ун-т "Львів. політехніка". - Л., 2011. - 200 арк. : рис. - Бібліогр.: арк. 183-200.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
"Львівська політехніка", національний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
| | 20. |
Р121118
Методические указания к выполнению лабораторной работы "Определение относительного изменения плотности вещества при кристаллизации аморфной пленки в электронном микроскопе" по курсу "Электронная микроскопия и электронография" [Текст] : для студентов физ.-техн., мех.-технол. и инженер.-физ. фак. / Нац. техн. ун-т "Харьк. политехн. ин-т" ; [сост.: А. Г. Багмут, И. А. Багмут, Г. П. Николайчук]. - Х. : НТУ "ХПИ", 2012. - 40 с. : рис., табл. - Бібліогр.: с. 11. - 50 прим.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу:
Багмут, Александр Григорьевич (сост.); Багмут, Иван Александрович (сост.); Николайчук, Григорий Павлович (сост.); "Харьковский политехнический институт ", национальный технический университет
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| | |
|
|
Простий
Розширений
Пам`ятка користувача