Простий
пошук
Розширений
пошук
Покажчики
Професійний
пошук
Рубрикатор
НБУВ
Розподілений
пошук

Бази даних

Книжкові видання та компакт-диски - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"
Вид пошуку
у знайденому
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком виданнявидом документа
 Знайдено в інших БД:Журнали та продовжувані видання (16)Автореферати дисертацій (2)Реферативна база даних (61)
Пошуковий запит: (<.>U=В338.28$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 54
Представлено документи з 1 до 20
...
1.
ДС51489
Мельник, Владимир Николаевич.
Теория и практика фотограмметрических методов в электронно- миктроскопических исследованиях [Текст] : дис... д-ра техн. наук: 05.24.02 / Мельник Владимир Николаевич ; Волынский гос. ун-т им. Леси Украинки. - Луцк, 1995. - 404 л.

Рубрикатор НБУВ:
 В338.28 с5,022 
Тематичні рубрики:
 Дисертації. Обладнання. Образотворчі засоби < Електронні і іонні мікроскопи > 


Дод. точки доступу:
Волынский государственный университет имени Леси Украинки

Видання зберігається у :
Основний фонд

2.
ДС85180
Кшевецький, Олег Станіславович.
Фізичні методи та пристрої для визначення реальної структури кристалів X-променевою багатохвильовою дифракцією [Текст] : дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.01 / Кшевецький Олег Станіславович ; НАН України та МОН України, Ін-т термоелектрики. - Чернівці, 2004. - 139 арк. - Бібліогр.: арк. 134-139.

Рубрикатор НБУВ:
 В372.134,022 
 В338.28,022 
Тематичні рубрики:
 Дисертації < Дифракція рентгенівських променів в кристалах > 
 Дисертації < Електронні і іонні мікроскопи > 


Дод. точки доступу:
Національна академія наук України; Інститут термоелектрики (Чернівці)

Видання зберігається у :
Основний фонд

3.
ДС77209
Покропивный, Алексей Владимирович.
Компьютерное моделирование изображений поверхностей и контактных взаимодействий в атомно-силовом микроскопе [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Покропивный Алексей Владимирович ; Нац. акад. наук Украины, Ин-т проблем материаловедения им. И. Н. Францевича. - К., 2002. - 212 л. - Библиогр.: л. 194-212

Рубрикатор НБУВ:
 В379.271.5 в641.8,022 
 В338.28,022 
Тематичні рубрики:
 Дисертації. Числові методи. Числове моделювання < Електричні явища при контакті напівпровідників з напівпровідниками, металами та діелектриками > 
 Дисертації < Електронні і іонні мікроскопи > 


Дод. точки доступу:
Национальная академия наук Украины; Институт проблем материаловедения имени И. Н. Францевича (Киев)

Видання зберігається у :
Основний фонд

4.
ДС53357
Грушко, Владимир Игоревич.
Закономерности изменения туннельного тока в системе острие- образец сканирующего туннельного микроскопа [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Грушко Владимир Игоревич ; НАН Украины, Ин-т физики. - К., 1996. - 112 л.

Рубрикатор НБУВ:
 В338.28,022 
Тематичні рубрики:
 Дисертації < Електронні і іонні мікроскопи > 


Дод. точки доступу:
Национальная академия наук Украины (Киев); Институт физики (Киев)

Видання зберігається у :
Основний фонд

5.
ДС57483
Ушаков, Андрей Викторович.
Динамика и кинетика электронов в ионно- пучковых системах холловского типа [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.20 / Ушаков Андрей Викторович ; НАН Украины, Науч. физ.-технол. центр. - Х., 1998. - 142 л. - Бібліогр.: л. 131-140.

Рубрикатор НБУВ:
 В338.28 
Тематичні рубрики:
 Електронні і іонні мікроскопи 


Дод. точки доступу:
Национальная академия наук Украины; Научный физико-технологический центр (Харьков)

Видання зберігається у :
Основний фонд

6.
ДС54158
Мордик, Сергей Николаевич.
Оптимизационные исследования источника ионов и сканирующей системы ядерного микрозонда [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.04 ; 01.04.01 / Мордик Сергей Николаевич ; Нац. акад. наук Украины, Ин-т приклад. физики. - Сумы, 1997. - 147 с. : рис.

Рубрикатор НБУВ:
 В338.28,022 
Тематичні рубрики:
 Дисертації < Електронні і іонні мікроскопи > 


Дод. точки доступу:
Национальная академия наук Украины; Институт прикладной физики (Сумы)

Видання зберігається у :
Основний фонд

7.
РА296504
Мордик, Сергій Миколайович.
Оптимізаційні дослідження іонного джерела та скануючої системи ядерного мікрозонду [Текст] : автореф. дис. канд. фіз.-мат. наук: 01.04.04 ; 01.04.01 / Мордик Сергій Миколайович ; Сумський держ. ун-т. - Суми, 1997. - 22 с.

Рубрикатор НБУВ:
 В338.28,022 
Тематичні рубрики:
 Дисертації < Електронні і іонні мікроскопи > 


Дод. точки доступу:
Сумський державний університет

Видання зберігається у :
Основний фонд

8.
РА293081
   Мельник, Володимир Миколайович.
Теорія і практика фотограмметричних методів в електронно- мікроскопічних дослідженнях [Текст] : автореф. дис... д-ра техн. наук: 05.24.02 / Мельник Володимир Миколайович ; Державний ун-т "Львівська політехніка". - Львів, 1995. - 51 с.

Рубрикатор НБУВ:
 Д131.4 
 В338.28 с5,022 
Тематичні рубрики:
 Фотограмметричні роботи 
 Дисертації. Обладнання. Образотворчі засоби < Електронні і іонні мікроскопи > 


Дод. точки доступу:
Державний університет "Львівська політехніка"

Видання зберігається у :
Основний фонд

9.
РА295156
Грушко, Володимир Ігорович.
Закономірності зміни тунельного струму в системі голка- зразок скануючого тунельного мікроскопа [Текст] : автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.18 / Грушко Володимир Ігорович ; НАН України, Ін-т фізики. - К., 1996. - 19 с.

Рубрикатор НБУВ:
 В338.28,022 
Тематичні рубрики:
 Дисертації < Електронні і іонні мікроскопи > 


Дод. точки доступу:
Національна академія наук України; Інститут фізики (Київ)

Видання зберігається у :
Основний фонд

10.
РА340577
Казбеков, Касым Садирович.
Ионно-акустический измерительный канал в установке IMSA-100 [Текст] : автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.01 / Казбеков Касым Садирович. - Алматы, 2005. - 24 с.

Рубрикатор НБУВ:
 В328.21,022 
 В338.28,022 
 В372.1,022 
Тематичні рубрики:
 Дисертації < Експериментальні методи і апаратура ультраакустики > 
 Дисертації < Електронні і іонні мікроскопи > 
 Дисертації < Структурний аналіз твердих тіл > 


Видання зберігається у :
Основний фонд

11.
РА323423
Покропивний, Олексій Володимирович.
Комп'ютерне моделювання зображень поверхонь і контактних взаємодій в атомно-силовому мікроскопі [Текст] : автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.07 / Покропивний Олексій Володимирович ; Нац. акад. наук України, Ін-т пробл. матеріалознавства ім. І. М. Францевича. - К., 2003. - 20 с. : рис.

Рубрикатор НБУВ:
 В379.271.5 в641.8,022 
 В338.28,022 
Тематичні рубрики:
 Дисертації. Числові методи. Числове моделювання < Електричні явища при контакті напівпровідників з напівпровідниками, металами та діелектриками > 
 Дисертації < Електронні і іонні мікроскопи > 


Дод. точки доступу:
Національна академія наук України; Інститут проблем матеріалознавства імені І. М. Францевича (Київ)

Видання зберігається у :
Основний фонд

12.
РА364322
Овсепян, Артур Багратович.
Исследование неоднородных сред и поверхностей методом СВЧ ближнего поля [Текст] : автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.03 / Овсепян Артур Багратович ; Ереванский гос. ун-т. - Ереван, 2009. - 18 с.
Описано по переводу. - Текст на арм. яз.

Рубрикатор НБУВ:
 В338.28,022 
Тематичні рубрики:
 Дисертації < Електронні і іонні мікроскопи > 


Дод. точки доступу:
Ереванский гос. ун-т

Видання зберігається у :
Основний фонд

13.
РА299815
Ушаков, Андрій Вікторович.
Динаміка та кінетика електронів в іонно- пучкових системах холлівського типу [Текст] : автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.20 / Ушаков Андрій Вікторович ; НАН України, Наук. фіз.-технол. центр. - Х., 1998. - 15 с.

Рубрикатор НБУВ:
 В338.28 
Тематичні рубрики:
 Електронні і іонні мікроскопи 


Дод. точки доступу:
Національна академія наук України; Науковий фізико-технологічний центр (Харків)

Видання зберігається у :
Основний фонд

14.
РА333090
Кшевецький, Олег Станіславович.
Фізичні методи та пристрої для визначення реальної структури кристалів X-променевою багатохвильовою дифракцією [Текст] : автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.01 / Кшевецький Олег Станіславович ; НАН України, Ін-т термоелектрики. - Чернівці, 2004. - 20 с.

Рубрикатор НБУВ:
 В372.134,022 
 В338.28,022 
Тематичні рубрики:
 Дисертації < Дифракція рентгенівських променів в кристалах > 
 Дисертації < Електронні і іонні мікроскопи > 


Дод. точки доступу:
Національна академія наук України; Інститут термоелектрики (Чернівці)

Видання зберігається у :
Основний фонд

15.
1881/Т-181
Тангоффер, Людвиг.
Микроскоп и его употребление [Текст] : руководство к общей микроскопической технике для врачей и студентов: Пер. с нем. / Л. Тангоффер ; предисл. Н. А. Хржонщевский. - К. : Издание киевского книгопродавца Л.В. Ильницкого, 1881. - ХVІ, 231 с.: рис.

Рубрикатор НБУВ:
 Р.с05 
 В338.28 
Тематичні рубрики:
 Медична апаратура та інструментарій 
 Електронні і іонні мікроскопи 


Дод. точки доступу:
Хржонщевский, Н. А. (предисл.)

Видання зберігається у :

16.
Р80385
Новиков, Ю. А..
Измерение диаметра электронного зонда РЭМ, ПРЭМ и электронных литографов [Текст] / Ю. А. Новиков [и др]. - М. : [б.в.], 1995. - 23 с. - (Препр. / РАН, Институт общей физики. Физика твердого тела. Отдел колебаний ; n19)

Рубрикатор НБУВ:
 В338.28 с 
Тематичні рубрики:
 Техніка і організація процесу науково-дослідної і практичної діяльності. Матеріально-технічні засоби < Електронні і іонні мікроскопи >  


Дод. точки доступу:
Раков, А. В.; Стеколин, И. Ю.; РАН; Институт общей физики. Физика твердого тела. Отдел колебаний

Видання зберігається у :
Основний фонд

17.
ВА588482
Куницький, Юрій Анатолійович.
Електронна мікроскопія [Текст] : навч. посібник для студ. інж.-фіз. і фіз. спец. вузів / Ю. А. Куницький, Я. І. Купина. - К. : Либідь, 1998. - 389 с. - ISBN 966-06-0102-6

Рубрикатор НБУВ:
 В338.28 я73-1 
Тематичні рубрики:
 Електронні і іонні мікроскопи 


Дод. точки доступу:
Купина, Ярослав Іванович

Видання зберігається у :
Основний фонд

18.
ВА613666
Егорова, О. В..
С микроскопом на "ты" [Текст] / О. В. Егорова. - СПб. : ИНТЕРМЕДИКА, 2000. - 326 с.: ил. - ISBN 5-89720-028-9

Рубрикатор НБУВ:
 В343.53 я9 
 В338.28 я9 
Тематичні рубрики:
 Поляризаційні прилади 
 Електронні і іонні мікроскопи 


Видання зберігається у :
Основний фонд

19.
Р91698
Вебер, Владимир Леонгардович.
Наблюдение неоднородностей показателя рассеяния в стратифицированной среде методом отражательной конфокальной микроскопии [Текст] / В. Л. Вебер. - Нижний Новгород : [б.и.], 2000. - 16 с.: рис. - (Препринт / РАН, Институт прикладной физики ; №523)

Рубрикатор НБУВ:
 В338.28 в641.8 
Тематичні рубрики:
 Числові методи < Електронні і іонні мікроскопи > 


Дод. точки доступу:
РАН; Институт прикладной физики (Нижний Новгород)

Видання зберігається у :

20.
ВА689002
Синдо, Дайзуке.
Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия [Текст] / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванов. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. - (Мир материалов и технологий ; 6-08). - Библиогр.: в конце глав. - ISBN 5-94836-064-4. - ISBN 4-431-70336-5 (англ.)

Рубрикатор НБУВ:
 В372.15,021 
 В338.28,021 
Тематичні рубрики:
 Монографії < Електронна мікроскопія > 
 Монографії < Електронні і іонні мікроскопи > 


Дод. точки доступу:
Оикава, Тецуо; Иванов, С. А. (пер. с англ.)

Видання зберігається у :
Універсальний підсобний фонд

...
 
Відділ інформаційно-комунікаційних технологій
Пам`ятка користувача

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського