Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
Пошуковий запит: (<.>U=В372.15$<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 28
Представлено документи з 1 до 20
|
| |
1. | ІС12501 Vichniac, Gérard. Description microscopique des reactions quasi-elastiques et tres inelastiques entre ions lourds [Text] : these / G. Vichniac ; Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: L'Universite de Paris-Sud. Centre d'Orsay
Видання зберігається у :
| 2. | В277162/1 Scanning tunneling microscopy [Text] / ed. R. Wiesendanger, H.-J. Güntherodt. - Berlin [etc.] : Springer, 1994 . Vol. 1 : General principles and applications to clean and absorbate-covered surfaces / with contrib. by D. Anselmetti [et al.]. - 2nd ed. - 1994. - XII. 280 p. : fig. - (Springer series in surface sciences ; 20). - Бібліогр. в кінці розд. - ISBN 3-540-58415-3. - ISBN 0-387-58415-3Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Wiesendanger, R. \ed.\; Güntherodt, H. -J. \ed.\; Anselmetti, D. (with contrib. by.); Behm, R. J. (with contrib. by.); van Bentum , P. J. M. (with contrib. by.)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 3. | ДС53469 Марченко, Александр Анатольевич. Сканирующая туннельная микроскопия тонких пленок длинноцепочечных алифатических соединений [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Марченко Александр Анатольевич ; НАН Украины, Ин-т физики. - К., 1997. - 144 л.: рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Национальная академия наук Украины (Киев); Институт физики (Киев)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 4. | РА302214 Прядкін, Сергій Леонідович. Використання скануючої тунельної мікроскопії для вивчення структури поверхні твердих тіл- провідників [Текст] : автореф. дис... канд. фіз.-мат. наук: 01.04.18 / Прядкін Сергій Леонідович ; НАН України, Ін-т металофізики ім. Г. В. Курдюмова. - К., 1998. - 18 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Національна академія наук України; Інститут металофізики імені Г. В. Курдюмова (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 5. | ДС59015 Прядкин, Сергей Леонидович. Применение сканирующей туннельной микроскопии для изучения структуры поверхности проводящих твердых тел [Текст] : дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.18 / Прядкин Сергей Леонидович ; НАН Украины, Ин-т металлофизики им. Г. В. Курдюмова. - К., 1998. - 91 л. - Библиогр.: л. 88-91.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Национальная академия наук Украины; Институт металлофизики имени Г. В. Курдюмова (Киев)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 6. | РА305401 Боркач, Євген Ілліч. Електронно- мікроскопічні дослідження впливу умов отримання на будову складних халькогенідних стекол [Текст] : автореф. дис... канд. техн. наук: 01.04.10 / Боркач Євген Ілліч ; Ужгородський держ. ун-т. - Ужгород, 1999. - 16 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Ужгородський державний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 7. | ДС62397 Боркач, Євген Ілліч. Електронно- мікроскопічні дослідження впливу умов отримання на будову складних халькогенідних стекол [Текст] : дис... канд. техн. наук: 01.04.10 / Боркач Євген Ілліч ; Ужгородський держ. ун-т. - Ужгород, 1999. - 148 л. - л. 130-148Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Ужгородський державний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 8. | СО25838 Автоионная и автоэлектронная микроскопия и спектроскопия: история, достижения, современное состояние, перспективы [Текст] : труды Российского семинара, г.Москва, 21-23 мая 2002г. / ред. А. В. Суворов ; Институт теоретической и экспериментальной физики. - М. : Академпринт, 2003. - 400 с.: ил. - Библиогр.: в конце трудов. - ISBN 5-87911-103-2Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Географічні рубрики:
Дод. точки доступу: Суворов, А. В. (ред.); Институт теоретической и экспериментальной физики
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 9. | ІВ206003 Gotszalk, Teodor Paweł. Systemy mikroskopii bliskich oddziaływań w badaniach mikro-i nanostruktur [Text] / T. P. Gotszalk. - Wrocław : Oficyna wydawnicza Politechniki Wrocławskiej, 2004. - 240 s.: rys. - Бібліогр.: s. 218-240. - ISBN 83-7085-844-9Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Видання зберігається у :
| 10. | РА331442 Щеглов, Дмитрий Владимирович. Наноразмерная модификация поверхности полупроводников и металлов зондом атомно-силового микроскопа [Текст] : автореф. дис... канд. физ.-мат. наук: 01.04.07 / Щеглов Дмитрий Владимирович ; Ин-т физики полупроводников СО РАН. - Новосибирск, 2004. - 23 с.: рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Российская академия наук. Сибирское отделение; Институт физики полупроводников (Новосибирск)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 11. | ВА689002 Синдо, Дайзуке. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия [Текст] / Д. Синдо, Т. Оикава ; пер. с англ. С. А. Иванов. - М. : Техносфера, 2006. - 253 с. - (Мир материалов и технологий ; 6-08). - Библиогр.: в конце глав. - ISBN 5-94836-064-4. - ISBN 4-431-70336-5 (англ.)Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Оикава, Тецуо; Иванов, С. А. (пер. с англ.)
Видання зберігається у :
Універсальний підсобний фонд
| 12. | ДС100329 Марченко, Александр Анатольевич. Сканирующая туннельная микроскопия органических молекул на интерфейсе жидкость-твердое тело [Текст] : дис... д-ра физ.-мат. наук: 01.04.18 / Марченко Александр Анатольевич ; Ин-т физики НАН Украины. - К., 2007. - 368 л. - Библиогр.: л. 342-368Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Национальная академия наук Украины; Институт физики (Киев)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 13. | РА351267 Марченко, Олександр Анатолійович. Сканувальна тунельна мікроскопія органічних молекул на інтерфейсі рідина-тверде тіло [Текст] : автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук: 01.04.18 / Марченко Олександр Анатолійович ; Ін-т фізики напівпровідників ім. В. Є. Лашкарьова НАН України. - К., 2007. - 33 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Національна академія наук України; Інститут фізики напівпровідників імені В. Є. Лашкарьова (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 14. | РА362037 Сліпченко, Микола Іванович. Фізичні основи ближньопольової НВЧ діагностики матеріалів і середовищ [Текст] : автореф. дис... д-ра фіз.-мат. наук: 01.04.01 / Сліпченко Микола Іванович ; Сумський держ. ун-т. - Суми, 2008. - 36 с.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Сумський державний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 15. | ДС109378 Слипченко, Николай Иванович. Физические основы ближнеполевой СВЧ диагностики материалов и сред [Текст] : дис. ... д-ра физ.-мат. наук : 01.04.01 / Слипченко Николай Иванович ; Харьк. нац. ун-т радиоэлектроники. - Х., 2008. - 351 л. : рис. - Библиогр.: л. 323-351Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Харьковский национальный университет радиоэлектроники
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 16. | ДС122867 Черепанов, Всеволод Владимирович. Исследования сверхтонких органических плёнок методами зондовой микроскопии [Текст] : дис. ... канд. физ.-мат. наук : 01.04.04 / Черепанов Всеволод Владимирович ; Ин-т физики НАН Украины. - К., 2010. - 167 л. : рис. - Бібліогр.: арк. 144-167.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Національна академія наук України; Інститут фізики (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 17. | РА377684 Черепанов, Всеволод Володимирович. Дослідження надтонких органічних плівок методами зондової мікроскопії [Текст] : автореф. дис. ... канд. фіз.-мат. наук : 01.04.04 / Черепанов Всеволод Володимирович ; Ін-т фізики НАН України. - К., 2010. - 24 с. : рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Національна академія наук України; Інститут фізики (Київ)
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 18. | ДС128299 Матієшин, Юрій Миколайович. Вдосконалення методів та засобів телевізійної сканувальної оптичної мікроскопії динамічних мікрооб'єктів [Текст] : дис. ... канд. техн. наук : 05.12.17 / Матієшин Юрій Миколайович ; Нац. ун-т "Львів. політехніка". - Л., 2011. - 200 арк. : рис. - Бібліогр.: арк. 183-200.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: "Львівська політехніка", національний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 19. | РА384787 Матієшин, Юрій Миколайович. Вдосконалення методів та засобів телевізійної сканувальної оптичної мікроскопії динамічних мікрооб'єктів [Текст] : автореф. дис. ... канд. техн. наук : 05.12.17 / Матієшин Юрій Миколайович ; Нац. ун-т "Львів. політехніка". - Л., 2011. - 22 с. : рис.Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: "Львівська політехніка", національний університет
Видання зберігається у :
Основний фонд
| 20. | ВА761133 Тузяк, Оксана Ярославівна. Основи електронної та зондової мікроскопії [Текст] : навч. посіб. / О. Я. Тузяк, В. Ю. Курляк ; Львів. нац. ун-т ім. Івана Франка. - Л. : ЛНУ ім. Івана Франка, 2012. - 295 с. : рис., табл. - Бібліогр.: с. 289-291. - 300 прим. - ISBN 978-966-613-950-7Рубрикатор НБУВ: Тематичні рубрики:
Дод. точки доступу: Курляк, Василь Юрійович; Львівський національний університет імені Івана Франка
Видання зберігається у :
Основний фонд
|
| |
|
|