Бази даних

Наукова електронна бібліотека - результати пошуку

Mozilla Firefox Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер
"Mozilla Firefox"

Вид пошуку
Сортувати знайдені документи за:
авторомназвоюроком видання
Формат представлення знайдених документів:
повнийстислий
 Знайдено в інших БД:Автореферати дисертацій (24)Реферативна база даних (184)Книжкові видання та компакт-диски (129)Журнали та продовжувані видання (317)
Пошуковий запит: (<.>U=В372.5$<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 2
Представлено документи з 1 до 2

   Тип видання:   наукове видання   
1.

Шабалин, Л. И.
Введение в молекулярную физику поверхности [Електронний ресурс] / Л. И. Шабалин. - Новосибирск : [б. в.], 2007

Рубрики:

  Повний текст доступний у читальних залах НБУВ


В этой, уже десятой книге, посвященной поверхностным явлениям, автор суммирует результаты своих исследований по молекулярной физике поверхности. Главной целью исследований является разработка идеи о существовании в природе неизвестной науке силы, названной сила разуплотнения поверхностного слоя (CРПС) жидких, твердых и газообразных веществ, являющейся фундаментальным явлением природы. Книга предназначена для широкого круга специалистов в областях естественных и технических наук, работы которых связаны с процессами на поверхности веществ.



Кл.слова:
сила розущільнення поверхневого шару

   Тип видання:   навчальний посібник   
Категорія: Фізика   
2.
 


Миронов, В. Л.
Основы сканирующей зондовой микроскопии [Електронний ресурс] : учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений / В. Л. Миронов. - Нижний Новгород : Институт физики микроструктур, 2004. - 110 с.

Рубрики:

  Повний текст доступний у читальних залах НБУВ


Книга представляет собой учебное пособие для студентов старших курсов высших учебных заведений, посвященное одному из самых современных методов исследования поверхности твердого тела – сканирующей зондовой микроскопии (СЗМ). В книге рассматриваются основные виды СЗМ, нашедшие наиболее широкое применение в научных исследованиях: сканирующая туннельная микроскопия (СТМ), атомно-силовая микроскопия (АСМ), электросиловая микроскопия (ЭСМ), магнитно- силовая микроскопия (МСМ), ближнепольная оптическая микроскопия (БОМ).



Кл.слова:
мікроскоп -- зонд
 

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського