Висвітлено експериментальні результати, що показують вплив нагрівання електронним пучком на параметри запису інформації у плівках барвника. Композитні плівки барвника отримано методом вакуумного напилення. Вивчено зміни оптичних властивостей і структури поверхні. Плівки органічного барвника опромінено електронним пучком за різної тривалості опромінення, щоб змінити структуру і морфологію поверхні. Зміни, що спостерігались у структурі, досліджено за допомогою електронного мікроскопа з високою роздільною здатністю. Максимальне збільшення ширини спостережено для аморфної плівки барвника на початковій стадії дифракційної картини. Відпал плівок барвника електронним пучком протягом 2 - 5 с веде до утворення зерна, розмір якого змінюється від 2 до 5 нм. Виявлено, що плівки органічного барвника мають гексагональну структуру зерен, утворених після відпалу електронним пучком. Оцінено порогові енергії, необхідні для зміни структури поверхні плівки барвника у процесі опромінення електронним пучком. Отримані результати дають змогу вивчити поведінку шарів барвника як середовища для запису інформації за допомогою електронного пучка.

Розглянуто розв'язання задачі комп'ютерної класифікації рентгенівських спектрів, отриманих енергодисперсійним спектрометром на просвічуючому електронному мікроскопі ПЭМ-125Л виробництва "АО Селмі" (м.Суми).

Розглянуто елементи електронної та іонної оптики, будову та принципи дії просвічувального, растрового, тунельного, електронно-зондового мікроскопів та аналізаторів, формування зображення. Описано основи кінематичної та динамічної теорії контрастів, електронографічного аналізу монокристалічних, полікристалічних та аморфних зразків. Подано приклади застосування Фур'є-когерентного аналізу для обробки електронно-мікроскопічних зображень.

Досліджено фізичний механізм збудження електромагнітних коливань у резонаторі електронним пучком шляхом розв'язання точної електродинамічної задачі, а також наочними фізичними міркуваннями про випромінювання елементарного заряду та механізм групування пучка. При цьому доведено, що головна роль в генерації електромагнітного поля в резонаторі належить елементарному механізму випромінювання Вавілова окремим електроном. Механізмами, відповідальними за когерентне випромінювання окремих частинок, можуть бути або лінійні процеси, коли відбувається групування пучка (для щільних пучків), або нелінійна динаміка в полі випромінювання (для короткохвильового випромінювання чи розріджених пучків).

Одержано інтегральне зображення для Гаусових пучків вищих порядків. На основі даного зображення визначено власну функцію пучка Ерміта - Гауса комплексного аргументу. Наведена функція може бути корисною для використання її у задачах про збудженням та розповсюдження вузькоспрямованих хвильових пучків.

Індекс рубрикатора НБУВ: В379.351 + В338.28

Рубрики:

Фазові рівноваги. Фазові перетворення

Електронні і іонні мікроскопи

Шифр НБУВ: Ж14159 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Запропоновано метод розв'язання рівняння Ліндхарда - Шарфа - Шіотта для функції щільності розподілу повних пробігів імплантованих іонів. На його базі знайдено інтегральне рівняння для перших похідних семиінваріантів розподілу та інтегральну форму функції розподілу. Досліджено аналітичні наближення та числові розв'язки для перших шести семиінваріантів ряду комбінацій іон - мішень. Встановлено закономірності їх залежності від енергії. Метод не має обмежень на енергії іонів, він забезпечує точність обчислень таку ж, як пакети статистичного моделювання, а час виконання розрахунків на багато менший. Вказано на можливість застосування розробленого методу для пошуку розподілу проективних пробігів.

Предложен метод оценки фокусности растрового изображения, основанный на использовании в качестве информационных признаков максимума градиента распределения яркости на рецепторном поле изображения и уровень яркости, вычисленный как частный случай лапласиана и соответствующий 5% уровню функции распределения градиента яркости. Алгоритм решения задачи реализован в среде MS DevStudio Visual C++ 5.0. Проведен компьютерный эксперимент по автофокусировке, моделирующий работу растрового микроскопа.

Работа направлена на создание методологии построения и расчета пространственно-распределенных структур для электростатического управления потоками заряженных частиц при наличии возмущений различной природы. Подчеркивается, что возмущения могут быть обусловлены как действием сторонних полей, так и необходимостью варьирования электрических и кинетических характеристик потоков (объемного заряда, скорости движения частиц и др.). Представлен ряд новых предложений в области граничного управления электростатическими полями. Разработаны принципы построения и расчета различных типов граничных управляющих структур. Исследованы свойства граничных поверхностей с периодически распределенными параметрами в виде симметрично расположенных относительно объекта управления решетчатых экранов. Разработаны электростатические фокусирующие системы с конфигурациями межэлектродных областей, характерными для электрокаплеструйных технологий. Формирование полей с требуемыми характеристиками осуществляется заданием необходимого распределения потенциала вдоль границы областей.

Розглянуто загальні питання формування малопотужних пучків та подано інженерну спрямованість розрахунку ЕОС. Наведено приблизні методики розрахунку електронно-оптичних параметрів та характеристик електронних лінз, струмових характеристик, інженерного розрахунку та оптимізації тріодної частини ЕОС, яка враховує допуски на технологію виробництва. Наведені варіанти типових завдань, опису програм, розроблених для реалізації на ЕОМ, а також результати розрахунку та оптимізації вихідних даних. В залежності від завдання розрахунки можна виконувати й без використання ЕОМ. Для полегшення багатьох обчислень наведені як розрахункові, так і методичні таблиці на послідовність етапних розрахунків.

Описано сучасний стан та перспективи розвитку програмного забезпечення системи рентгеноспектрального мікроаналізу, що використовується в електронних мікроскопах-мікроаналізаторах РЕММА-101А та РЕММА-102.

Розглянуто питання іонного фокусування електронного пучка (ЕП), інжекція якого проводиться з борту літального апарата (ЛА) на висотах більших, ніж 20 км. Запропоновано методику та виконано розрахунки тиску і часу повної нейтралізації об'ємного заряду (ЕП). Оцінено вплив на параметри фокусування ЕП швидкості ЛА на різних висотах. Показано, що за наявності іонної компенсації відпадає необхідність розміщення на ЛА обладнання нейтралізації.

Індекс рубрикатора НБУВ: В338.211

Рубрики:

Методи одержання < Електронні та іонні пучки >

Шифр НБУВ: Ж68850/фіз. Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В338.21

Рубрики:

Електронні та іонні пучки

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В338.2

Рубрики:

Електронна оптика. Іонна оптика

Шифр НБУВ: Ж68850/фіз. Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: В338.21

Рубрики:

Електронні та іонні пучки

Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Теоретично та експериментально досліджено поведінку електрона в магнітоперіодичній системі, що фокусується, (МПФС) з поздовжньою компонентою, що змінюється. Одержано аналітичні вирази для опису руху електрона в таких системах. Показано, що шляхом вибору початкових швидкостей електронів можна ефективно впливати на фокусування та проходження пучка на колектор

Теоретически и экспериментально исследовано поведение электрона в магнитопериодической фокусирующей системе (МПФС) с изменяющейся продольной компонентой. Получены аналитические выражения для описания движения электрона в таких системах. Показано, что выбором начальных скоростей электронов можно эффективно влиять на фокусировку и прохождение пучка на коллектор

The theoretical and experimental researches of electron behavior in MPFS with varying longitudinal component are given in this paper. We obtain the analytical expressions for description of electron motion in such systems. It is shown that we can effectively influence on beam focusing and beam passing to the collector by choosing the initial electron velocities

Предложен математический аппарат для вычисления дифракционной составляющей глубины резко изображаемого пространства в оптическом микроскопе по критериям Рэлея и Марешаля. Проведен сравнительный анализ результатов расчета по известным и предложенным формулам.

There are proposed the mathematical apparatus for calculation of diffraction part of a focus depth in a light microscope based on Raylegh and Mareshal criterias. There is made a comparison analysis of the results obtained using known and proposed formulas.

Досліджено вплив сталого електричного поля на динаміку автолокалізованих станів квазічастинки в одновимірному молекулярному ланцюжку. Показано, що слабке електричне поле спричинює прискорений рух квазічастинки вздовж ланцюжка, що може пояснювати процеси транспорту зарядів у одновимірних молекулярних системах. Проаналізовано залежність швидкості квазічастинки та часу її перебування в локалізованому стані від величини поля та інших параметрів системи. Показано, що у замкнутому ланцюжку квазічастинка, яка в початковий момент часу знаходилася у стані спокою, завдяки накопиченню енергії через певний проміжок часу починає рухатись у скільки-завгодно слабкому, але ненульовому електричному полі.

Исследовано влияние постоянного электрического поля на динамику автолокализованных состояний квазичастицы в одномерной молекулярной цепочке. Показано, что слабое электрическое поле служит причиной ускоренного движения квазичастицы вдоль цепочки, что может объяснять процессы транспорта зарядов в одномерных молекулярных системах. Проанализирована зависимость скорости квазичастицы и времени ее пребывания в локализованном состоянии от величины поля и других параметров системы. Показано, что в замкнутой цепочке квазичастица, которая в начальный момент времени находилась в состоянии покоя, вследствие накопления энергии через определенный промежуток времени приходит в движение в сколько угодно слабом, но ненулевом электрическом поле.

Here we study the influence of electrostatic field on the dynamics of self-trapped states of quasiparticles in one-dimensional molecular chain. It was shown, that weak electrostatic field causes the accelerated propagation of the quasiparticle along the chain, which can explain charge transport processes in molecular systems. The dependence of quasiparticle velocity and its lifetime on field magnitude and on the other system parameters were analyzed. It was shown, that in the ring chains even at veryweak fields the quasiparticle starts moving after some period of rest.

Предложена и исследована конструкция пьезокерамического сканера для наномикроскопов на основе биморфных пьезоэлементов. Построена и исследована модель этого сканера при помощи программы MicroCap 7.0. Установлено, что уровень связи между биморфными пьезоэлементами, которые создают колебания по координатам X, Y, Z, не превышает -20 дБ.

Is offered and the design of the piezoceramic scanner for nanomicroscopes on a basis bimorphic of piezoelements is investigated. Is constructed and the model of this scanner is investigated through the program MicroCap 7.0. Is established, that the level of connection between by bimorphic elements, which create fluctuations on coordinates X, Y, Z, does not exceed -20 dB.