Простий пошук
|
Розширений пошук
|
Алфавітні покажчики
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Віртуальна довідкаТематичний інтернет-навігаторНаукова електронна бібліотекаАвтореферати дисертаційРеферативна база данихКнижкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані видання
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
| Формат представлення знайдених документів: | ||
| повний | стислий | |
Пошуковий запит: (<.>A=Rudenko R$<.>) | |||||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||||
| 1. | Rudenko R. M. Influence of high temperature annealing on the structure and the intrinsic absorption edge of thin-film silicon doped with tin / R. M. Rudenko, V. V. Voitovych, M. M. Kras'ko, A. G. Kolosyuk, A. M. Kraichynskyi, V. O. Yukhymchuk, V. A. Makara // Укр. фіз. журн.. - 2013. - 58, № 8. - С. 769-772. - Бібліогр.: 16 назв. - англ.
Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ | ||||
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського