Простий пошук
|
Розширений пошук
|
Алфавітні покажчики
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Віртуальна довідкаТематичний інтернет-навігаторНаукова електронна бібліотекаАвтореферати дисертаційРеферативна база данихКнижкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані видання
 |
Для швидкої роботи та реалізації всіх функціональних можливостей пошукової системи використовуйте браузер "Mozilla Firefox" |
|
|
| Сортувати знайдені документи за: | ||
| автором | назвою | роком видання |
| Формат представлення знайдених документів: | ||
| повний | стислий | |
Пошуковий запит: (<.>A=Самойлович М$<.>) | ||||
|
Загальна кількість знайдених документів : 8 Представлено документи з 1 до 8 |
||||
| 1. | Белянин А. Ф. 3D слоистые структуры в качестве основы ненакаливаемых катодов и активных элементов фотодиодов / А. Ф. Белянин, М. И. Самойлович, В. Д. Житковский // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2005. - № 1. - С. 31-35. - Библиогр.: 11 назв. - pyc.
Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 2. | Панфилов Ю. В. Нанесение тонких пленок в вакууме на подложки из синтетического опала / Ю. В. Панфилов, М. И. Самойлович, Е. В. Булыгина // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2005. - № 2. - С. 49-52. - Библиогр.: 2 назв. - рус. Рассмотрено влияние методов термического испарения, ионно-плазменного магнетронного распыления и осаждения тонких пленок из ионного пучка на характеристики поверхности фотонных кристаллов. Приведены схемы процессов формирования тонких пленок на опаловых матрицах и конструкции технологической оснастки. Представлены результаты измерения электрического сопротивления пленок и характеристики топографии поверхности образцов фотонных кристаллов, полученные с помощью атомно-силового микроскопа. The influence of such methods as thermal evaporation, ion-plasma magnetron sputtering, ion-beam deposition on properties of photon crystal surface was examined. Ключ. слова: тонкие пленки, фотонный кристалл, опаловая матрица, термическое испарение, ионно-плазменное распыление, ионно-лучевое осаждение. Індекс рубрикатора НБУВ: З843.395-06 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 3. | Белянин А. Ф. Получение наноструктурированных пленок AlN и ZnO и их применение в электронной технике / А. Ф. Белянин, М. И. Самойлович, К. А. Ковальский, К. Ю. Петухов // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2005. - № 4. - С. 46-54. - Библиогр.: 11 назв. - рус. Рассмотрены конструктивные особенности распылительной системы установки магнетронного распыления и условия формирования пленок AlN и ZnO с контролируемым содержанием и строением кристаллической фазы. Показаны условия получения и эксплуатационные характеристики слоистых структур, включающих слои AlN, ZnO, алмаза и алмазоподобного углерода, при их применении в акусто- и эмиссионной электронике. The condition of obtaining and operating performances of layers structures including AlN, ZnO, diamond and diamond-like carbon for acoustic- and emission electronics are presented. Ключ. слова: наноматериалы, магнетронное распыление, слоистые структуры, акусто- и эмиссионная электроника. Індекс рубрикатора НБУВ: З843.395 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 4. | Самойлович М. И. Строение и высокотемпературная сверхпроводимость пленок $Eroman bold {Bi sub 2 Sr sub 2 CaCu sub 2 } { roman O } sub y / М. И. Самойлович, А. Ф. Белянин, А. Ю. Илюшечкин // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2007. - № 4. - С. 48-60. - Библиогр.: 17 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 5. | Белянин А. Ф. Ударостойкие защитные пленочные покрытия на основе AlN в электронной технике / А. Ф. Белянин, М. И. Самойлович, В. Д. Житковский, А. Л. Каменева // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2005. - № 5. - С. 35-41. - Библиогр.: 12 назв. - рус. Для формирования защитного покрытия AlN, стойкого к воздействию ударных нагрузок, пригодны методы магнетронного и диодного распыления, а также распыления ионным пучком. В зависимости от условий проведения процесса получается различное содержание рентгеноаморфной и кристаллической фаз в объеме наноструктурированных покрытий и их волокнистое строение. Многослойные защитные покрытия получали последовательным нанесением на поверхности устройств слоев аморфного и кристаллического АlN с внутренним волокнистым строением слоя. Methods of magnetron and diode sputtering and also ion beam sputtering are used for the formation temperature strengthening coatings. Changing deposition parameters of the given methods makes it possible to receive various concentration of the crystalline and X-ray amorphous phases and filamentary construction of the coatings. The multi-layer coatings were formed on the surface of the thermostamp consisted X-ray amorphous and crystalline АlN with the filamentary construction of the layers. Ключ. слова: термозащитные пленочные покрытия на основе AlN, магнетронное распыление, устройства термопечати. Індекс рубрикатора НБУВ: З85-060.7 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 6. | Белянин А. Ф. Формирование наноструктурированных пленок иридия и поликластерного алмаза / А. Ф. Белянин, А. Ф. Паль, М. И. Самойлович, Н. В. Суетин, Н. Н. Дзбановский, В. С. Митин, П. В. Пащенко, М. А. Тимофеев // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2007. - № 6. - С. 50-56. - Библиогр.: 11 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 7. | Ринкевич А. Б. Нанокомпозиты на основе опаловых матриц с 3D-структурой, образованной магнитными наночастицами / А. Б. Ринкевич, В. В. Устинов, М. И. Самойлович, А. Ф. Белянин, С. М. Клещева, Е. А. Кузнецов // Технология и конструирование в электронной аппаратуре. - 2008. - № 4. - С. 55-63. - Библиогр.: 63 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
| 8. | Самойлович М. И. Нанокомпозиты на основе опаловых матриц с кристаллическими ферротороидальными мультиферроиками / М. И. Самойлович, А. Б. Ринкевич, В. Бовтун, А. Ф. Белянин, Д. Нужный, М. Кемпа, М. Ю. Цветков, С. М. Клещева // Технология и конструирование в электрон. аппаратуре. - 2012. - № 3. - С. 35-41. - Библиогр.: 10 назв. - рус.
Шифр НБУВ: Ж14479 Пошук видання у каталогах НБУВ | |||
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського