Запропоновано нове еквівалентне формулювання основ електродинаміки Фарадея - Максвелла, що полягає у простому правилі безпосереднього визначення форми фарадеївських силових ліній електричного поля довільно рухомого крапкового заряду. На прикладі побудови силових ліній крапкового заряду продемонстровано просту користування новим правилом. Обчислене за щільністю побудованих силових ліній електричне поле збігається з відомими виразами, що дає підставу говорити про коректність нового формулювання основ класичної електродинаміки. Наведено зображення силових ліній обертового по колу крапкового заряду. Принципи складання основ фізики запозичені з досвіду складання основ геометрії Евкліда. Одинадцять законів класичної фізики складають зведення основ, достатнє для побудови будь-якої прикладної теорії класичної фізики у межах її компетенції, і тому його можна вважати канонічним. Це було зроблено для доказу повноти нового формулювання електродинаміки.

Досліджено запропонований новий хвилепровідний тракт, що складається з плоскопаралельного відкритого хвилеводу та двох секторних рупорів спеціальної геометрії, який за використання його у складі вимірювального плеча інтерферометра чотирьохміліметрового діапазону забезпечує можливість субмікронної розрізнювальної здатності за безконтактного контролю товщини тонких діелектричних плівок у процесі їх виробництва.

Исследован новый волноведущий тракт, состоящий из плоскопараллельного открытого волновода и двух секторных рупоров специальной геометрии, который при использовании его в составе измерительного плеча интерферометра четырехмиллиметрового диапазона обеспечивает возможность субмикронной разрешающей способности при бесконтактном контроле толщины тонких диэлектрических пленок в процессе их производства.

The new wave guiding tract which is consist of the parallel plates of open waveguide and two sector horns of special geometry, which ones are provide in the measuring interferometer's shoulder of an submillimeter resolving capacity in the 4-mm waveband at the contact less thickness dielectric films control during their production is under consideration.

Запропоновано метод виміру в міліметровому діапазоні електромагнітних хвиль усередненої діелектричної проникності неоднорідних діелектричних матеріалів, що відносяться до класу полімерних композитів. Для реалізації методу розроблено двоплечову антену з кусково-лінійним фазовим розподілом полів, у якої в процесі вимірювання змінюються геометричні розміри. У цьому випадку скачок фаз на стику плечей є лінійно зв'язаним з їх розмірами.

Рассмотрена синергетика в ее историческом становлении и представлено многообразие в мировой и отечественной науке подходов к пониманию этого трансдисциплинарного научного направления. Проведен анализ основных принципов синергетики и ее функций в современной культуре. Синергетика как картина мира, методология и наука является предметом специального анализа. Соотношение синергетики и философии проясняется в контексте рассмотрения синергетики как феномена постнеклассической науки.

Historical development of Synergetics and great variety of the аррroaches existed in the world and Russian science to understanding of this interdisciplinary scientific direction is examined in the article. рresents analysis of the main synergetic principles, its role in the contemporary am Synergetics as a picture of the World, methodology and science is a SBH special analysis. Correlation between Synergetics and Philosophy could be understood only if Synergetics is considered as a phenomenon of postrwe sical science.

Викладено основні положення і методологію метрології, терміни і визначення, основи взаємозамінності деталей машин, принципи і методи стандартизації. Наведено приклади інженерних методів розрахунків з'єднань деталей машин різних типів. Увагу приділено міжнародному співробітництву у галузі метрології, розглянуто структуру міжнародної метрологічної системи, діяльність міжнародних метрологічних організацій та регіональних метрологічних організацій. Систематизовано метрологічні показники засобів вимірів та наведено метрологічні характеристики засобів вимірів.