Розглянуто предмет, фундаментальні положення та принципи фізики наноструктур. Розкрито основні механізми фізико-хімічних процесів, що обумовлюють формування наноструктур і їх властивості. Увагу приділено методам синтезу наноструктурних частинок і фулеренів, особливостям взаємодії електромагнітних хвиль з речовиною, оптичним методам досліджень у матеріалознавстві високих технологій, методам маніпуляції атомними структурами. Наведено приклади застосування наноструктур, зокрема, у процесі створення мікролазерів, фотонних кристалів, зондових мікроскопів.

Рассмотрены предмет, фундаментальные положения и принципы физики наноструктур. Раскрыты основные механизмы физико-химических процессов, обуславливающих формирование наноструктур и их свойства. Уделено внимание методам синтеза наноструктурных частиц и фулеренов, особенностям взаимодействия электронных волн с веществом, оптическим методам исследования в материаловедении высоких технологий, методам манипуляции атомными структурами. Даны примеры применения наноструктур, в частности, в процессе создания микролазеров, фотонных кристаллов, зондовых микроскопов.

Зазначено, що інтерпретація зображень, одержаних за допомогою польового іонного мікроскопа, таких, наприклад, як зображення поверхні невпорядкованих твердих розчинів, часто є досить проблематичною. Основна проблема полягає в топологічному розвпорядкуванні поверхні на атомарному рівні. Проаналізовано внесок відстаней між сусідніми пікселями зображення, що дозволяє створити модель для групи найвипукліших атомів напівсферичної поверхні мікрокристала, який розміщений на межі поля емітера. Метод застосовано для обробки зображень поверхні паладію після адсорбції водню в сильному електричному полі.

Для получения пространственного разрешения в несколько нанометров и высокой оптической эффективности в ближнеполевом сканирующем микроскопе предложен пирамидальной формы микрополосковый зонд (ПМЗ), а также ПМЗ с металлическим выступом. Полученные при числовом моделировании параметры зонда дают основание для использования обоих типов зондов для оптического и магнитного метода записи информации, субмикронной литографии и других типов нанотехнологий, которые используют свет для модификации тонкого поверхностного слоя.

Розглянуто питання використання телевізійного сканувального оптичного мікроскопа для дослідження різних типів динамічних мікрооб'єктів з метою визначення основних параметрів цих мікрооб'єктів. Описано особливості побудови телевізійного сканувального оптичного мікроскопа для різних біологічних і медичних досліджень.

Індекс рубрикатора НБУВ: Р. с251.31 + Р. с05 + В338.26

Рубрики:

Аберація електронно- оптичних систем

Шифр НБУВ: Ж29409/А Пошук видання у каталогах НБУВ 

The elastic Green function and resolution function in Piezoresponse Force Microscopy of thin piezoelectric film capped on the rigid substrate are derived. The extrinsic size effect on the resolution function is demonstrated.

It is proposed the new technique for the digital demodulation of images with two-dimensional spatial modulation of illumination. This technique is applicable for low contrast modulation with any phases of modulation that are different. Efficiency of the technique is demonstrated using images of test-objects formed by an optical microscope with and without spatial modulation of illumination.

Demonstrated experimentally in this work was the possibility of controlled handling the nanoparticles with the size from 50 up to 250 nm on a semiconductor surface by using an atomic force microscope under conditions of acoustic excitation. It has been shown that the selective transport of particles of a certain size is possible owing to the change of an ultrasonic vibration amplitude. Also in this study, possible mechanisms in which ultrasound may influence the particle-surface interaction and the probe-particle (surface) interaction have been analyzed.

Розглянуто ефект вимушеної синхронізації частоти активного зонда мікрохвильового мікроскопа за дії зовнішнього поля з частотою, близькою до резонансної. Запропоновано використати квазіперіодичний режим для підвищення чутливості зонда до малих змін діелектричної проникності.

Рассмотрены основные искажающие факторы, обусловленные неоднородностью атмосферы, приводящие к смазу и дефокусировке оптико-электронных изображений. Получено математическое выражение при влиянии атмосферных искажений и выражение для функции размытия точки. Для искаженного изображения, полученного с аппарата дистанционного зондирования Земли, построена функция размытия точки.

Індекс рубрикатора НБУВ: В338.26 + В342.2

Рубрики:

Аберація електронно- оптичних систем

Теорія оптичних систем і оптичних зображень

Шифр НБУВ: Ж72631 Пошук видання у каталогах НБУВ