Індекс рубрикатора НБУВ: В374.3

Рубрики:

Поглинання. Дисперсія

Шифр НБУВ: Ж14063 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Розкрито теоретичні засади конструювання обчислювальної техніки (ОТ), наведено узагальнені методи аналізу та синтезу. На підставі системного підходу до проектування ОТ розглянуто електричні, електромагнітні, теплові та механічні процеси, що впливають на функціональні показники приладів, у взаємодії. Викладено основні методи розрахунку теплових і механічних режимів роботи ОТ. Висвітлено проблему електромагнітної сумісності радіоелектронних засобів і запропоновано способи її вирішення.

Раскрыты теоретические основы конструирования вычислительной техники (ВТ), приведены обобщенные методы анализа и синтеза. На основе системного подхода к проектированию ВТ рассмотрены во взаимодействии электрические, электромагнитные, тепловые и механические процессы, влияющие на функциональные показатели приборов. Изложены основные методы расчета тепловых и механических режимов работы ВТ. Освещена проблема электромагнитной совместимости радиоэлектронных средств и предложены способы ее решения.

Наведено результати наукових досліджень з проблем творчості та технологій у неперервній професійній освіті. Висвітлено організаційно-методичні засади педагогічної практики майбутніх учителів початкової школи за умов ступеневої підготовки, засоби формування дослідницьких умінь студентів у процесі вивчення природознавчих дисциплін, проблеми організації виховної роботи на філологічних факультетах ВНЗ. Розглянуто систему професійного самовдосконалення вчителя хімії загальноосвітнього навчального закладу, проблеми формування наукових понять з біології у учнів класів медико-біологічного профілю, організацію діяльності ліцею технічного профілю в системі неперервної професійної освіти. Висвітлено педагогічні засади професійного консультування молоді засобами Інтернет.

Приведены результаты научных исследований проблем творчества и технологий в непрерывном профессиональном образовании. Освещены организационно-методические основы педагогической практики будущих учителей начальной школы в условиях многоуровневой подготовки, средства формирования исследовательских умений студентов в процессе изучения природоведческих дисциплин, проблемы организации воспитательной работы на филологических факультетах ВУЗ. Рассмотрены система профессионального самоусовершенствования учителя химии общеобразовательного учебного заведения, проблемы формирования научных понятий по биологии у учеников классов медико-биологического профиля, организация деятельности лицея технического профиля в системе непрерывного образования. Освещены педагогические основы профессионального консультирования молодежи средствами Интернет.

Висвітлено теоретичні засади сучасних методів діагностики поверхні твердого тіла. Розглянуто метричні та фрактальні параметри мікрогеометрії поверхні, питання фізики поверхневих явищ і процесів. Проведено класифікацію методів дослідження поверхні, розкрито їх фізичні основи, можливості та способи реалізації. Увагу приділено методам сканувальної зондової мікроскопії, зокрема атомно-силовій і тунельній мікроскопії, а також методам повного зовнішнього відбиття та дифракції X-променів.

Освещены теоретические основы современных методов диагностики поверхности твердого тела. Рассмотрены метрические и фрактальные параметры микрогеометрии поверхности, вопросы физики поверхностных явлений и процессов. Проведена классификация методов исследования поверхности, раскрыты их физические основы, возможности и способы реализации. Уделено внимание методам сканирующей зондовой микроскопии, в частности атомно-силовой и туннельной микроскопии, а также методам полного внешнего отражения и дифракции X-лучей.

Ключ. слова: интегральные и дифференциальные кривые полного внешнего отражения рентгеновских лучей, кривые качания, среднеквадратическая высота неровностей R_a, длина корреляции L_a, плотность поверхностного слоя
Індекс рубрикатора НБУВ: В372.5 + В372.13

Рубрики:

Поверхневі явища у твердих тілах

Рентгеноструктурний аналіз

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Представлено результати експериментальних і теоретичних досліджень поверхні кристалів GaAs зі спеціально підготованим одно- та двовимірним рельєфом поверхні за допомогою методу диференціальних кривих повного зовнішнього відбивання (ДК ПЗВ) рентгенівських променів. Використовуючи аналіз серії експериментальних диференціальних кривих гойдання (ДКГ) з урахуванням даних, одержаних за допомогою методу атомно-силової мікроскопії, розв'язано пряму й обернену задачі - відновлено параметри рельєфу поверхні та розраховано теоретичні ДКГ. Відзначено задовільне узгодження параметрів рельєфу, одержаних за допомогою методів ДК ПЗВ та атомно-силової мікроскопії.

Індекс рубрикатора НБУВ: Р410.120.116-52я431(0)

Рубрики:

Затяжний септичний ендокардит

Шифр НБУВ: Ж16788 Пошук видання у каталогах НБУВ 

  Скачати повний текст

Досліджено проблему формування інформаційної компетентності майбутнього економіста в процесі професійної підготовки. Визначено джерела становлення та розвитку змісту поняття "інформаційна компетентність" в Україні та за кордоном. Обгрунтовано структуру та запропоновано технологічну модель формування інформаційної компетентності майбутнього економіста, в якій визначено мету, функції, зміст та умови її розвитку. Охарактеризовано основні етапи формування та встановлено критерії сформованості інформаційної компетентності майбутнього економіста, що відображають мотивацію до вивчення нових технологій і комп'ютерну грамотність фахівця, ефективність інформаційної діяльності, рівень операційних умінь і творчого підходу до вирішення професійних завдань.

Викладено теоретичні основи конструювання обчислювальної техніки (ОТ), наведено узагальнені методи аналізу та синтезу. Висвітлено основні задачі конструювання ОТ, визначено одно- та багатопараметричні показники чутливості, похибки за допомогою функцій чутливості (ФЧ), зокрема, випадкові похибки вихідних параметрів ФЧ. Описано алгоритм задачі конструювання і технології радіоелектронних засобів на основі параметричної чутливості. Проаналізовано основні показники надійності виробів ОТ до першої відмови.

Індекс рубрикатора НБУВ: Е0*725.111.434

Рубрики:

Загальна біологія

Шифр НБУВ: Ж60216 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Індекс рубрикатора НБУВ: Е50*725.111.434

Рубрики:

Загальна ботаніка

Шифр НБУВ: Ж60216 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Надано результати визначення структурних параметрів кристалів CdTe за допомогою штучних нейронних мереж на основі Х-променевих кривих дифракційного відбивання. Використано тришарову мережу зі зворотним розповсюдженням помилки та з динамічним додаванням нейронів. За допомогою створеного програмного забезпечення проведено моделювання роботи нейромережі. Проаналізовано вплив параметрів нейронної мережі на час навчання і на помилку мережі для тестових зразків. Показано, що динамічне додавання нейронів у поєднанні з коректним вибором топології й параметрів мережі дозволяє зменшити час навчання.

Індекс рубрикатора НБУВ: Е50*725.111.434 + Е50*440.4

Рубрики:

Загальна ботаніка

Шифр НБУВ: Ж60216 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Представлен новый подход для моделирования кривых рентгеновской рефлектометрии с применением метода частиц. В качестве частиц использованы пучки рентгеновских лучей единичной интенсивности. Учет многократных отражений и преломлений лучей в приближении френелевской оптики, а также отражений от границы "поверхностный слой - объем", обеспечили количественное соответствие экспериментальной и рассчитанной кривых. Исследованы механизмы формирования распределения интенсивности кривых полного внешнего отражения (ПВО) в различных угловых диапазонах. Предлагаемый алгоритм позволяет рассчитывать рентгеновские кривые ПВО от моделированного (фрактального) профиля поверхности и определять параметры усредненного фрактального профиля путем подгонки моделированной кривой к экспериментальной. Соответствующее программное обеспечение разработано в среде Delphi.

Продемонстрированы возможности метода Кикучи в исследовании неоднородного распределения деформаций в образцах искусственных кристаллов алмаза, выращенных при различных технологических условиях. Показаны перспективы использования геометрических параметров дифракционных картин Кикучи для определения изменения периода решетки. Использован корреляционный метод и его программная реализация определения деформаций дифракционных изображений пересечений линий Кикучи и минимизации субъективных факторов. Оптимальный выбор ядра корреляции обеспечивает высокую точность определения смещений деталей изображений. В результате определены локальные изменения структурной однородности искусственных алмазов и относительные изменения периода кристаллической решетки.

Індекс рубрикатора НБУВ: Р. с03

Шифр НБУВ: Ж68462 Пошук видання у каталогах НБУВ 

Предложен способ определения деформаций в кристаллах алмаза по анализу полос дифракции отраженных электронов на картинах Кикучи с использованием метода гистограмм. Определена анизотропия в распределении локальных деформаций на поверхности двух образцов алмаза, полученных методом температурного градиента в системе Fe - Al - C и методом наращивания в среде Mg - C + бор на поверхности монокристалла алмаза статического синтеза (Ni - Mn - C).

Подчеркнуто, что овладение информационными технологиями (ИТ) - признак современного образовательного учреждения. Рассмотрены основные задачи применения компьютера в воспитательном процессе: диагностические, организационные, контрольно-аналитические, коррекционные, коммуникативные. Освещены формы и приемы использования компьютера в практической деятельности заместителя директора по воспитательной работе. Представлены характеристики модели информационно грамотного выпускника гимназии. Названы достоинства ИТ, являющиеся инновациями, в частности, мобильность и портативность. Раскрыты две стороны использования новых компьютерных технологий (НКТ) в воспитательном процессе. С помощью таблицы продемонстрировано использование НКТ в воспитательном процессе в школе-гимназии № 2 г. Севастополя. Указано на необходимость учитывать при организации внеклассных воспитательных мероприятий конкретные умения и навыки применения НКТ, полученные учащимися при изучении информатики в средних и старших классах, а также самостоятельно освоенные. Приведена схема "Информационная культура личности".

Исследованы образцы сварных соединений никелевых сплавов NiCrFe, содержащих трещины. Используя картины дифракции обратно отражённых электронов, полученные в сканирующем электронном микроскопе, определены деформации в локальных участках каждого образца в зависимости от расстояния до трещины, а также от распределения химических элементов, полученного с помощью рентгеноспектрального микроанализа.