Peleshchak R. M. Influence of the quantum dot material deformation on Tamm surface levels = Вплив деформації матеріалу квантової точки на поверхневі рівні Тамма / R. M. Peleshchak, R. Ya. Leshko, D. S. Karpyn // Сенсор. електроніка і мікросистем. технології. - 2020. - 17, № 3. - С. 4-11. - Бібліогр.: 14 назв. - англ.
Досліджено вплив деформації матеріалу квантової точки на поверхневі рівні Тамма у напруженій наногетеросистемі InAs/GaAs. Дослідження проведено у рамках деформаційного потенціалу. Отримано залежність енергії поверхневих рівнів Тамма від розмірів квантової точки у напруженій гетеросистемі InAs/GaAs.
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"