РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000762598<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Ahmed M. Shano 
Fabrication and characterization of polyaniline nanofiber films by various techniques = Виготовлення та характеристика поліанілінових нановолоконних плівок різними методиками / Ahmed M. Shano, Zainab S. Ali // J. of Nano- and Electronic Physics. - 2020. - 12, № 4. - С. 04001-1-04001-5. - Бібліогр.: 20 назв. - англ.

У роботі поліанілінові нановолокна (PAni NFs) було успішно синтезовано за допомогою методу хімічного окиснення та гідротермальним методом. Було досліджено структурні, поверхневі морфологічні, оптичні й електричні властивості плівок PAni NFs, нанесених з викорстанням методу центрифугування. Результати XRD показали, що плівки PAni мають кристалічну природу. Середні розміри кристалітів складали 7,5 та 9,9 нм для плівок PAni, одержаних відповідно за гідротермальним та хімічним методами. FESEM зображення PAni чітко вказували на те, що він має структуру, подібну до нановолокон. Наявність характерних функціональних груп у спектрі FTIR підтвердила утворення PAni. Оптична характеристика показала, що в забороненій зоні допускається прямий електронний перехід. Значення ширини забороненої зони для PAni NFs становлять відповідно 2,46 еВ та 2,63 еВ за гідротермального та хімічного методів окиснення. Поглинання швидко зменшується у разі коротких довжинах хвиль, що відповідають ширині забороненої зони плівки. Електричні властивості змінного струму показали, що PAni NFs, приготовлені за хімічним методом, мають більш високу провідність змінного струму, ніж ті, що готуються з використанням гідротермального методу, тоді як ємність плівок зменшується у разі збільшення частоти. Значення показника частоти (s) досліджуваних тонких плівок лежать відповідно між 1,15 та 0,16 за гідротермального та хімічного методах окиснення. Виявлено, що метод приготування плівок впливає на діелектричну константу (<$Eepsilon sub 1>) та діелектричні втрати (<$Eepsilon sub 2>).


Індекс рубрикатора НБУВ: Л719.4

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ 
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського