Алиев В. М. Анализ флуктуационной проводимости в <$E bold roman {Y sub 1-x Cd sub x Ba sub 2 Cu sub 3 O sub {7- delta}}> (x = 0 - 0,4) / В. М. Алиев, Р. И. Селим-заде, Дж. А. Рагимов, Л. В. Омельченко, Е. В. Петренко // Фізика низ. температур. - 2020. - 46, № 9. - С. 1068-1077. - Библиогр.: 64 назв. - рус.Исследовано влияние частичного замещения Y на Cd на механизм образования избыточной проводимости в поликристаллах <$E roman {Y sub 1-x Cd sub x Ba sub 2 Cu sub 3 O sub {7- delta}}> c x = 0 (Y1), 0,1 (Y2), 0,3 (Y3) и 0,4 (Y4). С ростом x удельное сопротивление образцов <$E rho> заметно возрастало, а критическая температура перехода в сверхпроводящее (СП) состояние Tc уменьшалась. Механизм образования флуктуационной проводимости <$E sigma prime (T)> вблизи Tc рассмотрен в рамках теории Асламазова - Ларкина. Определены температура Гинзбурга (ТG), критическая температура в приближении среднего поля (<$E roman T sub c sup mf>), температура 3D - 2D кроссовера (T0) и температура T01, ограничивающая сверху область СП флуктуаций. Показано, что допирование Cd при увеличении x от 0 до 0,4 приводит к росту длины когерентности вдоль оси с в 2,7 раза, <$E xi sub c (0)>, а расстояние между плоскостями CuO2, d01, увеличивается в 2,2 раза. В рамках модели локальных пар из анализа избыточной проводимости определены температурные зависимости псевдощели (ПЩ), <$E DELTA sup * (T)>. Обнаружено, что с ростом замещения максимальное значение ПЩ <$E DELTA sup * (T sub pair )> уменьшается от 250,2 до 215,7 K, при этом реальное значение ПЩ, измеряемое при TG, <$E DELTA sup * (T sub G )>, возрастает от 217,4 до 224,2 K. Індекс рубрикатора НБУВ: В368.31
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж14063 Пошук видання у каталогах НБУВ Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|