Бондаренко М. О. Розвиток методів та засобів атомно-силової мікроскопії для неруйнівного контролю характеристик компонентів мікросистемної техніки : автореф. дис. ... д-ра техн. наук : 05.11.13 / М. О. Бондаренко; Нац. техн. ун-т України "Київ. політехн. ін-т ім. І. Сікорського". - Київ, 2019. - 42 c. - укp.Вирішено важливу науково-технічної проблему - удосконалення існуючих та створення нових методів і засобів атомно-силової мікроскопії для неруйнівного контролю геометричних та механічних характеристик компонентів мікросистемної техніки шляхом застосування автоматизованих систем вимірювання і контролю цих характеристик з урахуванням дії дестабілізуючих факторів, розроблення математичних та експериментально-статистичних моделей, що в цілому представляє собою наукові основи керування якістю процесу контролю на основі методу атомно-силової мікроскопії та дозволяє зменшити відносну похибку на 8 - 11%, збільшити чутливість методу на 17 - 19% та відтворюваність результатів контролю у 2,1 - 2,4 рази, а також збільшити термін експлуатації зонду у 2,6 - 3,5 рази, ймовірність його безвідмовної роботи - на 5 - 10%, зменшити в 1,2 - 3,4 рази швидкість ерозії поверхні, а також визначити діапазон робочих параметрів сканування, що забезпечують стабільну роботу атомно-силового мікроскопа. Індекс рубрикатора НБУВ: К961.6-7 с108 + З844.1-7
Рубрики:
Шифр НБУВ: РА438759 Пошук видання у каталогах НБУВ
Повний текст Автореферати дисертацій Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) ![](/irbis_nbuv/images/info.png) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|