Знайдено новий критерій аналітичності в області G функції w = u + iv або <$Ew bar ~=~u~-~iv>, u(x, y), <$Ev(x,~y)~symbol <174>~C sup 1 (G)>, що виражений через метричні тензори поверхонь Z = u і <$EZ~=~v~:~g sub 11 ~-~a sub 22 ~=~0>, <$Eg sub 12 ~+~a sub 12 ~=~0>, <$Eg sub 22 ~-~a sub 11 ~=~0>. Виявлено деякі інші еквіваленти аналітичної функції та встановлено інваріантність одержаних співвідношень відносно конформних перетворень. Одержано узагальнений варіант нового критерію.

 Наукова періодика України 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"