Експериментально виміряно кутові залежності еліпсометричних параметрів <$Epsi> і <$EDELTA> у разі зовнішнього відбивання і коефіцієнта внутрішнього відбивання світла для гібридних структур на основі тонких плівок Au, Ag або Cu, захищених діелектричними шарами HfO2 або MgF2. За допомогою матричного методу для зазначених багатошарових систем розраховано відповідні кутові залежності. Незважаючи на відмінності, одержані під час моделювання оптичних характеристик зразків між звичайним (зовнішнє відбивання) та поляритонним (внутрішнє відбивання) режимами, теоретичні результати добре узгоджуються з експериментальними даними. Обчислено кутові положення плазмонних мінімумів коефіцієнта внутрішнього відбивання у геометрії Кречмана для всіх зразків залежно від показника заломлення n речовини, нанесеної на відповідну багатошарову структуру. Величина зсуву цих мінімумів практично однакова для всіх досліджених структур і складає близько <$E100 symbol Р> на одиницю приросту n в околі n = 1,20. Це надає змогу оцінити ефективність даних структур як сенсорів, що функціонують на ефекті збудження поверхневого плазмонного резонансу.

• Макаренко Ольга Володимирівна (1977–) (медичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"