РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000655172<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Чиж І. Г. 
Спосіб визначення RMS опромінення зображення протяжного джерела методом мікрофотометрії / І. Г. Чиж, О. О. Голембовський // Наук. вісті НТУУ "КПІ". - 2016. - № 1. - С. 124-130. - Бібліогр.: 7 назв. - укp.

Серед параметрів і функцій для оцінки якості зображень, сформованих оптичними системами, використовується параметр RMS спот-діаграм. Цей параметр зазвичай визначають розрахунковим рейтресингом пучка променів через оптичну систему. Існує принципова можливість відтворення RMS мікрофотометрією зображення реального точкового джерела світла. Проте RMS такого зображення спотворюється через кінцеві розміри джерела. Проблемою є відокремлення у значеннях RMS складових, які обумовлені параметрами джерела світла й абераціями оптичної системи. Мета дослідження - відтворення абераційної складової RMS за результатами мікрофотометрії зображення протяжного джерела випромінювання, сформованого оптичною системою, що досліджується. Використано математичний апарат розрахунків полярного, осьових і відцентрових RMS від функції розподілу освітленості в зображенні протяжного джерела світла, наближеного до точкового. Розрахунки вказаних типів RMS здійснено за формулами для радіусів моментів інерції, що відомі в теоретичній механіці. Аналогом маси в них слугує просторова щільність світлового потоку в оптичному зображенні джерела. При розрахунках RMS протяжність джерела врахована за допомогою теореми Гюйгенса - Штейнера. Одержано нові математичні вирази для розрахунків RMS з урахуванням розподілу освітленості в зображенні джерела світла. Встановлено, що RMS кожного типу є піфагоровою сумою складових, одна з яких обумовлена параметрами джерела, а друга - абераціями оптичної системи. За результати відтворення RMS з мікрофотометрії зображення джерела та за даними про параметри джерела можна визначати абераційну складову в кожному типі RMS. Дослідження підтверджує можливість визначення абераційних RMS оптичної системи за результатами мікрофотометрії зображення протяжного джерела світла. Метод надає змогу створювати нові фотоелектричні апаратні засоби для вимірювань дистанції до об'єктів, а також нові типи офтальмологічних приладів.


Індекс рубрикатора НБУВ: В631.4

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж16492 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського