Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000651035<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Malykhin S. V. On application of X-ray aproximation method for studying the substructure of sufficiently perfect samples = Про застосування способу апроксимації до вивчення субструктури достатньо досконалих зразків рентгенівським методом / S. V. Malykhin, I. E. Garkusha, V. A. Makhlay, S. V. Surovitsky, M. V. Reshetnyak, S. S. Borisova // Functional Materials. - 2017. - 24, № 1. - С. 179-183. - Бібліогр.: 15 назв. - англ.Відпрацьовано методику рентгенографічного дослідження розміру областей когерентного розсіяння та величини деформацій шляхом апроксимації профілів дифракційних ліній функціями Гаусса, Коши, а також використанням гармонічного аналізу для зразків вольфраму з достатньо досконалою структурою. Продемонстровано важливість правильного вибору еталону для одержання розумних результатів вимірювань. Показано, що у першому наближенні за розрахунку істинного (фізичного) розширення є допустимим використання теоретичної спектральної ширини лінії. Зроблено оцінку внеску у геометричне розширення основних інструментальних факторів. Індекс рубрикатора НБУВ: В372.13
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|