РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000651035<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Malykhin S. V. 
On application of X-ray aproximation method for studying the substructure of sufficiently perfect samples = Про застосування способу апроксимації до вивчення субструктури достатньо досконалих зразків рентгенівським методом / S. V. Malykhin, I. E. Garkusha, V. A. Makhlay, S. V. Surovitsky, M. V. Reshetnyak, S. S. Borisova // Functional Materials. - 2017. - 24, № 1. - С. 179-183. - Бібліогр.: 15 назв. - англ.

Відпрацьовано методику рентгенографічного дослідження розміру областей когерентного розсіяння та величини деформацій шляхом апроксимації профілів дифракційних ліній функціями Гаусса, Коши, а також використанням гармонічного аналізу для зразків вольфраму з достатньо досконалою структурою. Продемонстровано важливість правильного вибору еталону для одержання розумних результатів вимірювань. Показано, що у першому наближенні за розрахунку істинного (фізичного) розширення є допустимим використання теоретичної спектральної ширини лінії. Зроблено оцінку внеску у геометричне розширення основних інструментальних факторів.


Індекс рубрикатора НБУВ: В372.13

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж41115 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського