РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000645111<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Nevliudov I. Sh. 
Development of MEMS construction connect devices with a self-test connections = Розробка конструкції МЕМС пристроїв з можливістю самотестування підключення / I. Sh. Nevliudov, O. I. Filipenko, V. A. Palagin, Ie. A. Razumov-Fryziuk, V. V. Nevliudova, D. V. Gurina // Information and Telecommunication Sciences. - 2016. - 7, № 2. - С. 10-19. - Бібліогр.: 13 назв. - англ.

Значна частина сучасних електронних компонентів, що застосовуються в електронній техніці (ЕТ), володіючи високими заявленими електрофізичними характеристиками, досить часто не відповідають паспортним даним, мають приховані дефекти, які через складність та високий рівень інтеграції (процесори, FPGA і ін.) складно своєчасно виявити. Це накладає на виробників ЕТ додаткові вимоги щодо організації вхідного і функціонального контролю виробів і використання контролюючих пристроїв високого рівня автоматизації і відповідно складності. Мета досліджень - розробка оригінального конструктивно-технологічного рішення багатозондового контактного пристрою для контролю мікросхем в корпусах BGA, яке відрізняється можливістю одночасного контролю великої кількості виводів з високою щільністю їх розташування, низькою собівартістю, малими масогабаритними параметрами і можливістю контролю якості підключення. Якісне, однорідне контактування багатозондового контактного пристрою до контрольованої мікросхемі здійснюється за рахунок пневматичного притиснення зондів, розташованих на гнучкому шлейфі. Зонди конструктивно розподілено на кілька частин, що надає змогу провести перевірку якості підключення. Розроблено конструкцію багатозондового контактного пристрою і топологію притискання шлейфу, проведено моделювання напружено-деформованого стану, що виникає у разі притискання зондів гнучкого шлейфу до виводів мікросхеми, проведено експериментальні дослідження перехідного опору гнучкий шлейф - виводи мікросхеми. Висновки: проведене моделювання та експериментальні дослідження надають підставу вважати, що запропоноване конструктивно-технологічне рішення надає змогу контролювати мікросхеми в BGA корпусах з кількістю виводів до декількох сотень і кроком розташування до 500 мкм.


Індекс рубрикатора НБУВ: Ч231.3

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж100651 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського