Проведено експериментальне дослідження реакційної дифузії в системі Cu - Sn під дією постійного електричного струму густиною у 7,3 · 10⁷ А/м². Особливістю експерименту було те, що конструкція досліджуваного зразка виключала можливість перенесення атомів купруму від катода до анода через спільний прошарок цини. За таких умов ріст фази Cu₃Sn + Cu₆Sn₅ на аноді відбувається швидше, ніж на катоді. Кінетика росту відповідає лінійному часовому закону Δ x ∝ t. З використанням моделі процесу реакційної дифузії під час електроміграції проведено аналіз одержаних експериментальних результатів.

• Корнієнко Святослав Володимирович (психологічні науки)
• Корнієнко Семен Вікторович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"