РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІ
НАДХОДЖЕННЯ
ПОШУК
РУБРИКАТОР

Бази даних

Реферативна база даних - результати пошуку

Книжкові видання та компакт-диски
Журнали та продовжувані видання
Автореферати дисертацій
Реферативна база даних
Наукова періодика України
Тематичний навігатор
Авторитетний файл імен осіб
Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000622050<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Zakhvalinskii V. S. 
Temperature influence on the properties of thin Si3N4 films / V. S. Zakhvalinskii, P. V. Abakumov, A. P. Kuzmenko, A. S. Chekadanov, E. A. Piljuk, V. G. Rodriguez, I. J. Goncharov, S. V. Taran // Журн. нано- та електрон. фізики. - 2015. - 7, № 4. - С. 04052-1-04052-2. - Бібліогр.: 6 назв. - англ.

Applying Raman spectroscopy, small-angle x-ray scattering, and atomic force microscopy it were studied phase composition and surface morphology of nanoscale films Si3N4 (obtained by RF magnetron sputtering).


Індекс рубрикатора НБУВ: В371.212 + В379.247

Рубрики:
 Напівпровідникові наноструктури 
 Спектроскопія напівпровідників 

Шифр НБУВ: Ж100357 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Повний текст  Наукова періодика України 
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського