РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІНАДХОДЖЕННЯ |
ПОШУК
|
РУБРИКАТОР
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб|
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000577059<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
Bobyk M. Yu. Different electron-scattering mechanisms' contribution to the formation of the amplitude contrast of electron-microscopic images / M. Yu. Bobyk, V. P. Ivanitsky, M. M. Ryaboshchuk, O. Ya. Svatyuk // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології : зб. наук. пр.. - 2015. - 13, вип. 1. - С. 85-97. - Бібліогр.: 13 назв. - англ. Предложен новый метод экспериментального определения амплитуды контрастного значения электронно-микроскопических изображений для аморфных материалов. Получены математические соотношения для расчета вкладов различных механизмов рассеяния электронов на изучаемом объекте в контраст на основе соответствующих электронограмм. Для аморфных пленок As Індекс рубрикатора НБУВ: В338.26 + В342.2 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж72631 Пошук видання у каталогах НБУВ  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" | |||
| Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
 |
| Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів |
 |
| Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського