Представлены результаты исследований графенового покрытия, сформированного на различных подложках, таких как алмаз, кубический нитрид бора и оксид кремния. Диагностику наличия графеновых структур проводили методом романовской спектроскопии и рентгеноструктурного анализа. Топографию поверхности исследовали с помощью оптического, электронного и туннельного микроскопов. Рассмотрены функциональные возможности всего использованного экспериментального оборудования. Проанализированы результаты, полученные с помощью нового прибора - туннельного микроскопа, оснащенного острием из полупроводникового алмаза, легированного бором.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"