РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000535983<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Brovchuk S. M. 
Models of deformation dependences of total integrated intensity of dynamical diffraction in single crystals for various diffraction conditions / S. M. Brovchuk, V. B. Molodkin, A. I. Nizkova, I. I. Rudnytska, G. I. Grankina, V. V. Lizunov, S. V. Lizunova, B. V. Sheludchenko, E. S. Skakunova, S. V. Dmitriev, I. N. Zabolotnyi, A. A. Katasonov, Zhuravlev // Металлофизика и новейшие технологии. - 2014. - 36, № 8. - С. 1035-1048. - Бібліогр.: 3 назв. - англ.

С помощью теории Чуховского - Петрашеня для деформационной зависимости (ДЗ) интегральной интенсивности динамической дифракции (ИИДД) в кристаллах без дефектов показан характер изменения ДЗ ИИДД с толщиной кристаллов и с вариацией других условий дифракции. На этой основе, а также при использовании ряда экспериментов с реальными дефектными кристаллами и результатов теории полной интегральной интенсивности динамической дифракции (ПИИДД) в кристаллах с дефектами без изгиба построена аналитическая модель ДЗ ПИИДД в кристаллах с дефектами, пригодная для диагностики параметров структурных дефектов в кристаллах. Полученные эвристически выражения для ДЗ ПИИДД в кристаллах с дефектами учитывают ДЗ поглощательных и отражательных способностей кристаллов, вклад которых определяется параметрами модели (<$Ealpha ,~beta ,~gamma ,~...>) как для брэгговской, так и для диффузной составляющих ПИИДД. Установлено, что достаточно точное описание ДЗ достигается с фиксированными параметрами и единого вида выражениями только в определенных узких диапазонах радиусов деформации. Однако эти параметры оказываются избирательно зависящими от каждого набора характеристик условий дифракции (длины волны, толщины кристаллов, индексов отражения, геометрии дифракции и др.). Показано, что эвристически построить модель ДЗ ПИИДД в кристаллах с дефектами как диагностический метод оказалось возможным только благодаря тому, что удалось факторизовать влияние микродефектов и параметра деформации отдельно на когерентную и на диффузную составляющие ПИИДД, но уберечь нефакторизованность их влияния на суммарную интенсивность ИИДД.


Індекс рубрикатора НБУВ: В372.31 в641

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Повний текст  Наукова періодика України 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського