Розроблено програмне забезпечення для розпізнавання фотографій дефектної підсистеми, які створюються під час сканування реальних напівпровідникових кристалів в ІЧ-променях. Наведено структурну схему та опис установки, яка використовується для одержання знімків, а також описано алгоритм розпізнавання ІЧ фотографій. Наведено способи перевірки правильності розпізнавання та запропоновано новий метод тестування коректності роботи існуючих програмних комплексів для моделювання структури та параметрів підсистеми дефектів вирощування напівпровідникових кристалів.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Д'яченко Лілія Іванівна (технічні науки)
• Остапов Сергій Едуардович (фізико-математичні науки)
• Наконечний Ігор Йосипович (хімічні науки)
• Копач Ольга Володимирівна (біологічні науки)
• Копач Олег Вадимович (хімічні науки)
• Фочук Петро Михайлович (хімічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"