The optical properties of multilayer structures consisting of dielectric, conductivity-oxide and nanoscaled metal layers, deposited on the planar substrates (witness samples) and surface relief ones (diffraction gratings) with micro- and nanoscale sizes, are investigated by AFM, spectral ellipsometry (SE), and photometric techniques. The SE-measured parameters are related to actual characteristics of the layers when specified the model of their near-surface regions. Using a parametrization of the layer dielectric function versus the wavelength and a fitting procedure, the dielectric parameters are determined. It is shown that the optical constants are affected by both the substrate morphology and the adjacent medium. Preliminary data about the influence of isolated particle plasmon excitations in 2D-substrates with the top nanoscaled Au layer on its optical properties are presented.

Індекс рубрикатора НБУВ: В379.326 + В379.34 + Ж620

Рубрики:

Тонкі шари діелектриків

Оптичні властивості діелектриків

Нанотехнології

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Мамикін Сергій Васильович (фізико-математичні науки)
• Соснова Марія Вікторівна (фізико-математичні науки)
• Яструбчак Оксана Богданівна (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"