Порівняно два еліпсометричні методи характеризації тонких металевих (золотих) плівок на прозорих (скляних) підкладках - багатокутовий звичайний (відбивальний) і поляритонний (в режимі ослабленого повного внутрішнього відбивання, ATR). З кутових залежностей поляризаційних кутів <$E PSI ( phi )>, <$E DELTA ( phi )> для плівок Au трьох товщин 5, 15, 50 нм шляхом розв'язування оберненої еліпсометричної задачі одержано оптичні константи <$E n, ~k> на довжині хвилі <$E lambda ~=~632,8> нм. Розраховані коефіцієнти парної кореляції показують, що надійність і точність визначення коефіцієнта поглинання k, показника заломлення n та товщини плівок Au значно вищі в режимі ATR під час резонансного збудження поверхневих плазмових поляритонів. Цьому сприяє використання методу Кречманна, коли діелектричне оточення плівки Au може змінюватись (повітря, вода, інші рідини). Крім того, товщини плівок визначено за допомогою незалежного методу мікроскопії атомних сил (AFM). Відмінності величин <$E n,~k>, одержаних з використанням двох різних методів з різним діелектричним оточенням, пояснюються несуцільністю плівок і шорсткістю їх поверхні.

Індекс рубрикатора НБУВ: В378.26 + В378.4

Рубрики:

Тонкі шари металів

Оптичні властивості металів (металооптика)

Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Кондратенко Ольга Сергіївна (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"