Budnyk O. P. Diffraction and interference in wave light phenomena for optical element testing / O. P. Budnyk, R. A. Lymarenko // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2003. - 6, № 3. - С. 417-422. - Бібліогр.: 13 назв. - англ.Розглянуто розвиток методів аналітичного й експериментального дослідження дифракційних та інтерференційних явищ, що використовуються в системах контролю оптичних елементів. Теоретичний аналіз і результати експериментів ілюструють можливість опису дифракційних явищ з використанням об'єктів і методів, які були розвинуті у сингулярній оптиці. Показано, що система дислокацій у сингулярній компоненті дифракційного поля представляє його топологію. Дифракційне поле має систему прихованих оптичних вихорів, траєкторії яких трансформуються за умов деформації апертури залежно від кривизни границі. Запропонований експериментальний метод перевірки може бути корисним для аналізу структури хвильового фронту. Також розглянуто математичний апарат Ронкі-тесту та запропоновано метод для більш точної оцінки результатів Ронкі-тесту, який достатньо добре описує форму хвильового фронту, параметри дифракційної гратки, характеристики приймача зображення, параметри прийому зображення та його відновлення. Наведено розподіл інтерференційної картини й її просторовий спектр. Представлено результати порівняння комп'ютерного моделювання інтерференційних картин ронкіграм та експериментальних результатів, одержаних з використанням приймача зображення й алгоритмів підвищення якості зображення. Індекс рубрикатора НБУВ: В343.4
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|