РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»
НОВІНАДХОДЖЕННЯ |
ПОШУК
|
РУБРИКАТОР
|
Бази даних
Реферативна база даних - результати пошуку
Книжкові видання та компакт-дискиЖурнали та продовжувані виданняАвтореферати дисертаційРеферативна база данихНаукова періодика УкраїниТематичний навігаторАвторитетний файл імен осіб|
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000394866<.>) | |||
|
Загальна кількість знайдених документів : 1 |
|||
Rybalochka A. Allowable deviation of LC layer thickness in cholesteric LCDs / A. Rybalochka, V. Sorokin, A. Sorokin // Semiconductor Physics, Quantum Electronics and Optoelectronics. - 2002. - 5, № 1. - С. 115-118. - Бібліогр.: 10 назв. - англ. Під час адресації холестеричних рідкокристалічних дисплеїв за допомогою різноманітних способів запису інформації розкид товщини шару рідкого кристала в дисплеї суттєво впливає на якість відображення інформації. Принципи адресації холестеричних дисплеїв, які в динамічних способах запису реалізуються за допомогою керувальних послідовностей імпульсів напруги, накладають певні обмеження на величину цього розкиду. Порівняно допустимий відносний розкид товщини рідкокристалічного шару в дисплеї для двох простих дворівневих динамічних способів запису інформації за допомогою методу "динамічного гістерезису". Індекс рубрикатора НБУВ: В372.35 + З973-044.61 Рубрики: Шифр НБУВ: Ж16425 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
 Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця" | |||
| Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського |
 |
| Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів |
 |
| Інститут проблем реєстрації інформації НАН України |
Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського