Новосядлий С. Електрофізичне діагностування надійності субмікронних структур великих інтегральних схем за ефектами нелінійності їх характеристик / С. Новосядлий, О. Фрик // Прикарпат. вісн. НТШ. Сер. Число. - 2008. - № 1. - С. 182-190. - Бібліогр.: 7 назв. - укp.Зазначено, що сучасний стан розвитку світової електронної промисловості характеризується неперервним підвищенням вимог до надійності виробів твердотільної електроніки, мікро-, оптоелектроніки. Пошук оптимальних шляхів забезпечення цих вимог указав на необхідність глибокого розуміння фізики явищ, які призводять до відказів ВІС, і відмов надійності. Фізичний підхід до забезпечення надійності напівпровідникових приладів сформувався ще в 70 - 80-ті рр. На сьогоднішньому етапі це необхідно зробити і для субмікронних структур ВІС, на що вказують наведені матеріали. Індекс рубрикатора НБУВ: З841.151-02
Шифр НБУВ: Ж73616 Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|