Ahmed Mustaffa Saleem Structural properties of nanocrystalline TiN films / Ahmed Mustaffa Saleem, A. M. Mahmood, K. M. Salih // Пр. Одес. політехн. ун-ту. - 2012. - Вип. 1. - С. 31-36. - Библиогр.: 10 назв. - англ.За допомогою растрово-електронної мікроскопії, рентгеноструктурного аналізу, адгезійної проникності, коефіцієнта тертя і швидкості зносу матеріалу вивчено властивості нанокристалічних, титанонітридних (НК ТiN) покриттів, залежно від потенціалу, що подається на підкладку, і тиску в камері включення ВЧ розряду. Показано, що зміщення різних параметрів, реєстрованих в процесі дряпання, дозволяє розрізняти порогові значення критичного навантаження, прив'язані до різних типів когерентного і адгезійного руйнування покриттів у ході трибологічних випробувань. Визначено розміри нанозерен стехіометрії НК ТiN покриттів, а також фазовий і елементний склади та морфологію поверхні покриттів. Індекс рубрикатора НБУВ: К663.235.6-18
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж69121 Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|