Електростатичне екранування зарядженого поглинаючого об'єкта (пилової частинки) у беззіткненій плазмі з потоком досліджено на базі лінеаризованого кінетичного рівняння для іонів плазми з врахуванням їх поглинання точковим об'єктом. Досліджено вплив поглинання іонів на притягувальну частину (ПЧ) розподілу потенціалу пилової частинки в плазмі. Для дотеплових іонних потоків ПЧ потенціалу частинки в напрямі перпендикулярному потоку іонів може бути суттєво послабленою або повністю зникнути, залежно від швидкості поглинання (пропорційної площі поверхні частинки). Для надтеплових іонних потоків показано, що вплив поглинання на ПЧ потенціалу частинки в напрямку перпендикулярному потоку іонів є експоненціально малим. Зроблено висновок, що у випадку надтеплового потоку іонів плазми відносно частинки впливом поглинання на розподіл потенціалу частинки у плазмі можна знехтувати для розмірів частинок, що характерні для комплексних плазм.

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"