Semchuk O. Yu. Features of light scattering by surface fractal structures / O. Yu. Semchuk, D. L. Vodopianov, L. Yu. Kunitska // Наносистеми, наноматеріали, нанотехнології. - 2009. - 7, вип. 3. - С. 793-801. - Библиогр.: 16 назв. - англ.У межах метода Кірхгофа розраховано середній коефіцієнт розсіяння світла поверхневими фрактальними структурами. Для моделювання розсіювальної поверхні використано двовимірну, обмежену смугою функцію Вейєрштрасса. Виконано числові розрахунки середнього коефіцієнта розсіяння та побудовано індикатриси розсіяння для різних типів поверхонь і кутів падіння. У процесі аналізу індикатрис розсіяння зроблено висновок, що розсіяння є симетричним відносно площини падіння; зі збільшенням ступеня калібрування поверхні картина розсіяння ускладнюється; найбільша інтенсивність розсіяної хвилі спостерігається в дзеркальному напрямку і, крім того, існують напрямки, в яких споетерігаються сплески інтенсивності. Індекс рубрикатора НБУВ: В343.25
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж72631 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|