Приведен метод средневзвешенных оценок диагностических свойств тестов и средство выбора оптимизированного набора тестов, обеспечивающих эффективное тестовое диагностирование запоминающих устройств, что повысит надежность микросхем и модулей памяти на этапе изготовления, а также коэффициент готовности запоминающих устройств на этапе эксплуатации за счет сокращения времени локализации и устранения неисправностей. Для практического применения данного метода использован алгоритм сортировки "пузырьком" средневзвешенных оценок диагностических свойств тестов и разработана программа Optimal-Test, обеспечивающая выбор оптимизированной последовательности тестов, что позволяет увеличить показатель эксплуатационной эффективности системы диагностирования.

 Наукова періодика України 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Рябцев Володимир Григорович (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"