Рассмотрены актуальные теоретические и экспериментальные вопросы, связанные с локальным реверсированием поляризации и пьезоэлектрическим откликом в низкоразмерных полярно-активных структурах. Продемонстрировано, что пьезоэлектрическая силовая микроскопия (ПСМ) используется как для визуализации полярных наноструктур, так и для одновременного управления их локальными характеристиками (например, создание и реверсирование массивов наноразмерных доменов). Показано, что исследование сегнетоэлектрических наноструктур методами ПСМ имеет ряд преимуществ по сравнению с методами атомной силовой микроскопии, поскольку она основана на взаимодействии между электрическими и механическими явлениями, необходимом для функционирования пьезо- и сегнетоэлектрических наноструктур, входящих в состав энергонезависимых ячеек памяти, микроэлектромеханических систем.

• Свєчніков Сергій Васильович (1926–2017) (технічні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"