Скобцов Ю. А. Двухуровневый алгоритм генерации проверяющих тестов для схем с памятью / Ю. А. Скобцов, В. Ю. Скобцов, Ш. Н. Хинди // Радіоелектрон. і комп'ют. системи. - 2009. - № 7. - С. 136-140. - Библиогр.: 5 назв. - рус.Представлен двухуровневый алгоритм генерации тестов, где на нижнем уровне эволюционными методами генерируются входные характеристические последовательности, которые позволяют установить некоторые элементы памяти в определенные состояния и тем самым упростить генерацию тестов. Алгоритм второго верхнего уровня при генерации тестов использует произвольные входные последовательности и характеристические последовательности, построенные на нижнем уровне ГА, что делает эволюционный поиск более направленным и повышает его эффективность. При оценке полноты тестов используется кратная стратегия наблюдения сигналов. Індекс рубрикатора НБУВ: З972-07-5-05
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж24450 Пошук видання у каталогах НБУВ Повний текст Наукова періодика України Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|