За допомогою методу багатокутової еліпсометрії визначено оптичні параметри модифікованих тонкоплівкових структур на базі систем Ge - Se(S). Введення модифікатора в структури <$E <<~roman {Ge sub 40 Se (S)} sub 60 : X~>> > (X - Al, Bi, Pb, Te, In) впливає на зміну їх показника заломлення та коефіцієнта відбиття. Виявлено вплив підложжя на рельєф поверхні осаджуваної плівки. З використанням методу атомово-силової мікроскопії досліджено морфології поверхонь даних структур і встановлено механізми їх формування.

Індекс рубрикатора НБУВ: В379.224

Рубрики:

Склоподібні напівпровідники

Шифр НБУВ: Ж72631 Пошук видання у каталогах НБУВ 

---

Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)

• Горват Галина Томашівна (технічні науки)
• Кондратенко Ольга Сергіївна (фізико-математичні науки)
• Лоя Василь Юрійович (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"