Valchuk A. O. Study of <$E bold roman e sub 0>-electron yields from the surface of thin films after <$E bold beta>-particle irradiation from <$E bold { nothing sup 152 roman Eu,~ nothing sup 154 roman Eu}>, and <$E bold {nothing sup 226 roman Ra}> decays = Дослідження виходу <$E roman e sub 0>-електронів з поверхні тонких плівок при бомбардуванні їх <$E beta>-частинками від радіоактивних джерел <$E nothing sup 152 roman Eu,~nothing sup 154 roman Eu> і <$E nothing sup 226 roman Ra> / A. O. Valchuk, V. T. Kupryashkin, L. P. Sidorenko, O. I. Feoktistov, I. P. Shapovalova // Укр. фіз. журн. - 2006. - 51, № 2. - С. 126-131. - Библиогр.: 10 назв. - англ.За допомогою методу (<$E roman e sub gamma>)-збігів проведено дослідження виходу <$E roman e sub 0>-електронів з поверхні тонких плівок при бомбардуванні їх <$E beta>-частинками від радіоактивних джерел <$E nothing sup 152 roman Eu,~ nothing sup 154 roman Eu> і <$E nothing sup 226 roman Ra>. Встановлено, що вихід <$E roman e sub 0>-електронів обернено пропорційний швидкості налітаючих <$E beta>-частинок. Це означає, що ступінь іонізації атомів мішені пропорційний часу дії збурення, спричиненого <$E beta>-частинками, що пролітають повз них. Індекс рубрикатора НБУВ: В379.227
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж26988 Пошук видання у каталогах НБУВ
Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|