Изучена эволюция туннельных характеристик точечных контактов, образованных стальной иглой с поверхностью поликристаллического образца La0,7Sr0,3MnO3 (LSMO), в зависимости от степени механической деформации материала в области контакта. Установлено наличие тонкого диэлектрического слоя на поверхности манганита. Зависимость проводимости контакта <$E sigma> от силы F прижима иглы в режиме упругой деформации поверхностного слоя толщиной d описывается показательной функцией вида <$E sigma> ~ <$E exp ( - alpha d)>. Диапазон наблюдаемых изменений <$E sigma (V)> превышает шесть порядков. Вид зависимости симметричной части дифференциальной проводимости от напряжения смещения имеет степенной вид <$E sigma (V)~-~sigma (0)> ~ <$E V sup k>, причем показатель степени резко меняется с ростом F при переходе от упругой деформации к разрушению диэлектрического слоя. Характеристики более глубокого приповерхностного слоя LSMO, обусловленного наличием мелкомасштабной сепарации ферромагнитной и неферромагнитной фаз, соответствуют значению k = 4/3, которое возникает при туннелировании через потенциальный барьер с промежуточным состоянием (модель Глазмана - Матвеева). При этом низкое удельное сопротивление <$E rho~<<~10~roman {мОм~cdot~см}> достигается только в объеме образца.

Індекс рубрикатора НБУВ: В379.247

Рубрики:

Спектроскопія напівпровідників

Шифр НБУВ: Ж14388 Пошук видання у каталогах НБУВ 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"