РЕФЕРАТИВНА БАЗА ДАНИХ "УКРАЇНІКА НАУКОВА"
Abstract database «Ukrainica Scientific»


Бази даних


Реферативна база даних - результати пошуку


Вид пошуку
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000157393<.>)
Загальна кількість знайдених документів : 1

Шпак А. П. 
Аналітичний опис дифузних піків на профілях трикристальної рентгенівської дифрактометрії від монокристалів з мікродефектами / А. П. Шпак, В. Б. Молодкін, С. Й. Оліховський, Є. М. Кисловський, О. В. Решетник, Т. П. Владімірова, Р. І. Барабаш, Д. О. Григор'єв // Металлофизика и новейшие технологии. - 2005. - 27, № 9. - С. 1223-1236. - Бібліогр.: 20 назв. - укp.

Аналітичні вирази для опису інтенсивности піків дифузного розсіяння від мікродефектів різних типів з врахуванням інструментальних особливостей трикристального дифрактометра (ТКД) виведено з формул узагальненої динамічної теорії розсіяння рентгенівських променів в реальних монокристалах. Проведено вимірювання і аналіз профілів ТКД та двокристальної рентгенівської дифрактометрії від монокристалів кремнію з мікродефектами, визначено характеристики цих мікродефектів.


Ключ. слова: трикристальний рентгенівський дифрактометр, динамічна теорія розсіяння, монокристал, мікродефекти, дифузне розсіяння, дифракційний профіль
Індекс рубрикатора НБУВ: В372

Рубрики:

Шифр НБУВ: Ж14161 Пошук видання у каталогах НБУВ 
Додаткова інформація про автора(ів) публікації:
(cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці)
  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
 
Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського
Відділ наукового формування національних реферативних ресурсів
Інститут проблем реєстрації інформації НАН України

Всі права захищені © Національна бібліотека України імені В. І. Вернадського