За допомогою методів рентгенівської дифрактометрії досліджено структурні зміни в поверхневому шарі кристалів, підданих різним видам технологічних обробок: іонній імплантації, хімічному травленню. Виявлено кількісну відмінність у товщинних залежностях деформації, значеннях максимальної деформації, ступені пошкодженості та протяжності області пружних деформацій після різних етапів обробки. Спостерігається суттєва зміна спектра фотолюмінесценції в пористому шарі після імплантації іонів фосфору.

• Молодкін Вадим Борисович (1941–) (фізико-математичні науки)

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"