Книжкові видання та компакт-диски Журнали та продовжувані видання Автореферати дисертацій Реферативна база даних Наукова періодика України Тематичний навігатор Авторитетний файл імен осіб
|
Пошуковий запит: (<.>ID=REF-0000144745<.>) |
Загальна кількість знайдених документів : 1
|
Rogozin I. V. Radical-beam geterising epitaction in technology of <$E bold {A sup roman II~-~B sup roman VI}> semiconductors / I. V. Rogozin // Фотоэлектроника: Межвед. науч. сб. - 2005. - Вып. 14. - С. 62-66. - Библиогр.: 4 назв. - англ.A new method is proposed to control the defect composition in chalcogenide semiconductors <$E A sup roman II~-~B sup roman VI>. To achieve an inversion of mono-polar n-type semiconductor to p-type conductivity, the crystals should be annealed in activated chalcogenide vapour at the certain temperature. The new low temperature technique for growing <$E A sup roman II~-~B sup roman VI> semiconductor structures (Radical Beam Gettering Epitaxy) is used. This technique offers the possibility to grow both n- and p-type <$E A sup roman II~-~B sup roman VI> epilayers. The technology made also possible to obtain heterostructures. Індекс рубрикатора НБУВ: З843.324 + В379.2
Рубрики:
Шифр НБУВ: Ж67522 Пошук видання у каталогах НБУВ Додаткова інформація про автора(ів) публікації: (cписок формується автоматично, до списку можуть бути включені персоналії з подібними іменами або однофамільці) Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"
|
|
|