Electron stimulated desorption ion angular distribution (ESDIAD) and temperature programmed desorption (TPD) techniques have been employed to study radiation-induced decomposition of fractional monolayer SF6 films physisorbed on Ru(0001) at 25 K. Our focus is on the origin of <$E roman F sup +> and <$E roman F sup -> ions, which dominate ESD from fractional monolayers. <$E roman F sup -> ions escape only in off-normal directions and originate from undissociated molecules. The origins of <$E roman F sup +> ions are more complicated. The <$E roman F sup +> ions from electron stimulated desorption of molecularly adsorbed SF6 desorb in off-normal directions, in symmetric ESDIAD patterns. Electron beam exposure leads to formation of SFx (x = 0 - 5) fragments, which become the source of positive ions in normal and off-normal directions. Electron exposure <$E~>>~10 sup 16 roman cm sup {- 2}> results in decomposition of the entire adsorbed SF6 layer.

Індекс рубрикатора НБУВ: В372.6 + В372.7

Рубрики:

Тонкі шари твердих тіл

Радіаційні ефекти у твердих тілах

Шифр НБУВ: Ж14063 Пошук видання у каталогах НБУВ 

---

  Якщо, ви не знайшли інформацію про автора(ів) публікації, маєте бажання виправити або відобразити більш докладну інформацію про науковців України запрошуємо заповнити "Анкету науковця"